[发明专利]LED老化测试系统及其测试方法

权利要求书

1.一种LED老化测试系统，其特征在于，包括：

可视化人机交互模块，用于选择一测试模式并输入与其对应的测试参数，显示所述测试模式和/或所述测试参数；

微处理器模块，用于接收所述测试模式及对应的测试参数，计算所述测试参数得到计算结果并将其输出；

被测试模块，用于接收所述计算结果并实现与所述测试模式相对应的被测试模式，得到被测试参数并将其输出；

测试模块，用于接受所述微处理器模块的控制并根据接收到的所述被测试参数测试所述被测试模块得到模拟测试结果，所述模拟测试结果经由所述微处理器模块读取并处理为数字测试结果，所述数字测试结果输出到所述可视化人机交互模块并由其显示。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括温度控制模块，用于设定温度控制模式对所述被测试模块进行温度控制，其中，所述温度控制模式选择为常温、低温、高温或高低温循环模式之一。

3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述被测试模块包括多路可控恒流源、多路可控电压源、多路可控开关和多路LED老化测试座；所述微处理器模块输出所述计算结果到多路可控恒流源和多路可控电压源，并控制多路可控恒流源的使能端或多路可控电压源的使能端、多路可控开关以一设定的交替频率对多路LED老化测试座进行正向电流、反向电压交替老化，且使多路LED老化测试座实现与所述测试模式相对应的被测试模式。

4.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，所述可控电压源由第一运算放大器和第一电阻组成，所述可控恒流源由第二运算放大器、第二电阻、第三电阻和三极管组成，所述可控开关是由开关电源、PMOS管、NMOS管、第四电阻和第五电阻组成的电子开关，其中，第一电阻的一端连接于第一运算放大器的输出端，另一端连接第一运算放大器的负极并连接与所述LED老化测试座的负端，第一运算放大器的正极用于接收一给定的反向电压值；第二电阻连接于第二运算放大器的输出端和三极管基极之间，第二运算放大器的负极连接三极管的发射极并连接于第三电阻的一端，第三电阻的另一端电性接地，第二运算放大器的正极用于接收一给定的正向电流值，三极管的集电极连接于LED老化测试座的负端；所述开关电源的输出端连接PMOS管的源极，PMOS管的漏极连接NMOS管的漏极并连接于所述LED老化测试座的正端，NMOS管的源极电性接地，第四电阻连接于PMOS管的源极和栅极之间，第五电阻连接于NMOS管的源极和栅极之间，PMOS管的栅极和NMOS管的栅极分别连接于所述微处理器模块。

5.根据权利要求3或4所述的测试系统，其特征在于，所述可控恒流源和可控电压源相互独立或协同工作。

6.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试模块包括多路LED电流信号矩阵切换电路、多路LED电压信号矩阵切换电路、多路LED漏电流处理电路和多路LED正向电压处理电路；所述多路LED电流信号矩阵切换电路、所述多路LED电压信号矩阵切换电路由模拟开关芯片CD4051、CD4052分别组成，所述微处理器模块控制所述多路LED电流信号矩阵切换电路和多路LED电压信号矩阵切换电路实现所述模拟开关芯片CD4051和CD4052的信号组合，从而将所述被测试参数输入到多路LED漏电流处理电路或多路LED正向电压处理电路处理成0~3.3伏电压的所述模拟测试结果并将其输出。

7.根据权利要求1或6所述的测试系统，其特征在于，所述微处理器模块的内部集成设有模数转换器，所述模数转换器将所述模拟测试结果的模拟信号转换为所述数字测试结果的数字信号。

8.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述可视化人机交互模块由LCD屏、触摸屏、模式选择开关和RGB开关组成；所述模式选择开关选择恒流老化模式、正向冲击老化模式、正反向冲击老化模式、正向压降检测模式和反向漏电检测模式中的任一测试模式；所述触摸屏设置所述测试模式的测试参数，所述LCD屏显示所述测试模式和/或所述测试参数和/或所述数字测试结果；所述RGB开关设置为红色LED工作、绿色LED工作、蓝色LED工作、红绿色LED工作、红蓝色LED工作、绿蓝色LED工作和红绿蓝色LED工作中的任一工作方式。