[发明专利]待测信号查找系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种电路板测试系统及方法，特别是关于一种查找电路板的待测信号在硬件电路设计图上位置的待测信号查找系统及方法。

背景技术

在电路板开发过程中，为了验证电路板是否工作正常，测试人员需要运行电路测试程序对各个待测信号进行测试。每个待测信号在硬件电路设计图上有对应的图面位置，为了从电路图上得到待测信号的图面位置，测试人员需要反复查找电路图，因而耗费了大量的精力和时间。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种待测信号查找系统，能够快速准确地得到电路板的待测信号在硬件电路设计图上的图面位置。

此外，还有必要提供一种待测信号查找方法，能够快速准确地得到电路板的待测信号在硬件电路设计图上的图面位置。

一种待测信号查找系统，运行于数据处理设备中，该系统包括：第一加载模块，用于加载电路板的硬件设计电路图；查找模块，用于查找电路板的各个待测信号在硬件设计电路图上的图面位置，根据各个待测信号在硬件设计电路图上的图面位置从硬件设计电路图中获得各个待测信号的子电路图；存储模块，用于将各个待测信号及对应的子电路图存储至存储设备；第二加载模块，用于加载电路测试程序；确定模块，用于当选择电路测试程序中的测试指令时，确定该选择的测试指令对应的待测信号，并从存储设备中搜寻该确定的待测信号所对应的子电路图；及显示模块，用于将搜寻到的子电路图显示在显示设备上。

一种待测信号查找方法，应用于数据处理设备中，该方法包括：第一加载步骤，加载电路板的硬件设计电路图；查找步骤，查找电路板的各个待测信号在硬件设计电路图上的图面位置，根据各个待测信号在硬件设计电路图上的图面位置从硬件设计电路图中获得各个待测信号的子电路图；存储步骤，将各个待测信号及对应的子电路图存储至存储设备；第二加载步骤，加载电路测试程序；确定步骤，当选择电路测试程序中的测试指令时，确定该选择的测试指令对应的待测信号，并从存储设备中搜寻该确定的待测信号所对应的子电路图；及显示步骤，将搜寻到的子电路图显示在显示设备上。

本发明在利用电路测试程序对电路板进行测试时能够快速准确地得到待测信号在硬件电路设计图上的图面位置，提高了测试效率，减少了测试时间。

附图说明

图1为本发明待测信号查找系统较佳实施例的应用环境示意图。

图2为图1中待测信号查找系统的功能模块图。

图3为本发明待测信号查找方法较佳实施例的流程图。

图4为在显示设备上显示搜索到的待测信号的子电路图的示意图。

主要元件符号说明