[发明专利]待测信号查找系统及方法无效
| 申请号： | 201210420268.1 | 申请日： | 2012-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN103792480A | 公开（公告）日： | 2014-05-14 |
| 发明（设计）人： | 苏圣伟;王柏崴;林伯鸿 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 信号 查找 系统 方法 | ||
1.一种待测信号查找系统，运行于数据处理设备中，其特征在于，该系统包括：
第一加载模块，用于加载电路板的硬件设计电路图；
查找模块，用于查找电路板的各个待测信号在硬件设计电路图上的图面位置，根据各个待测信号在硬件设计电路图上的图面位置从硬件设计电路图中获得各个待测信号的子电路图；
存储模块，用于将各个待测信号及对应的子电路图存储至存储设备；
第二加载模块，用于加载电路测试程序；
确定模块，用于当选择电路测试程序中的测试指令时，确定该选择的测试指令对应的待测信号，并从存储设备中搜寻该确定的待测信号所对应的子电路图；及
显示模块，用于将搜寻到的子电路图显示在显示设备上。
2.如权利要求1所述的待测信号查找系统，其特征在于，所述硬件设计电路图包括原理图和布局布线图。
3.如权利要求1所述的待测信号查找系统，其特征在于，所述硬件设计电路图被预先分割为多个子电路图，若一个子电路图包含指定待测信号，则该子电路图是该指定待测信号的子电路图。
4.如权利要求3所述的待测信号查找系统，其特征在于，所述硬件设计电路图以电子元件为单位进行分割。
5.一种待测信号查找方法，应用于数据处理设备中，其特征在于，该方法包括：
第一加载步骤，加载电路板的硬件设计电路图；
查找步骤，查找电路板的各个待测信号在硬件设计电路图上的图面位置，根据各个待测信号在硬件设计电路图上的图面位置从硬件设计电路图中获得各个待测信号的子电路图；
存储步骤，将各个待测信号及对应的子电路图存储至存储设备；
第二加载步骤，加载电路测试程序；
确定步骤，当选择电路测试程序中的测试指令时，确定该选择的测试指令对应的待测信号，并从存储设备中搜寻该确定的待测信号所对应的子电路图；及
显示步骤，将搜寻到的子电路图显示在显示设备上。
6.如权利要求5所述的待测信号查找方法，其特征在于，所述硬件设计电路图包括原理图和布局布线图。
7.如权利要求5所述的待测信号查找方法，其特征在于，所述硬件设计电路图被预先分割为多个子电路图，若一个子电路图包含指定待测信号，则该子电路图是该指定待测信号的子电路图。
8.如权利要求7所述的待测信号查找方法，其特征在于，所述硬件设计电路图以电子元件为单位进行分割。
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