[发明专利]发光二极管封装构造及其制造方法无效
| 申请号: | 201210414056.2 | 申请日: | 2012-10-25 |
| 公开(公告)号: | CN102969432A | 公开(公告)日: | 2013-03-13 |
| 发明(设计)人: | 张效铨;蔡宗岳 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L33/60 | 分类号: | H01L33/60;H01L33/48;H01L25/13 |
| 代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽 |
| 地址: | 中国台湾高雄*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 发光二极管 封装 构造 及其 制造 方法 | ||
1.一种发光二极管封装构造,其特征在于:所述发光二极管封装构造包含:
多个承载座,相邻两所述承载座之间具有一间隔空间,所述间隔空间包含相互连通的一第一凹部与一第二凹部,其中所述第一凹部填充有反光材料;
多个发光二极管芯片,分别设置于所述承载座上,并通过导线连接;以及
一透明封装层,设于所述承载座上方而包覆所述发光二极管芯片与所述反光材料。
2.如权利要求1所述的发光二极管封装构造,其特征在于:所述第一凹部与第二凹部各具有一倾斜面,而所述第一凹部与第二凹部的倾斜面的交界定义出一尖端。
3.如权利要求1所述的发光二极管封装构造,其特征在于:每一所述承载座的材料是铜或铜合金。
4.如权利要求1所述的发光二极管封装构造,其特征在于:每一所述承载座的上、下表面各设有一第二金属层。
5.如权利要求1所述的发光二极管封装构造,其特征在于:每一所述发光二极管芯片的发光面设有荧光粉层。
6.如权利要求1所述的发光二极管封装构造,其特征在于:所述反光材料是添加二氧化钛颗粒的光刻胶材料。
7.如权利要求1所述的发光二极管封装构造,其特征在于:所述反光材料填充高度高于所述承载座表面。
8.一种发光二极管封装构造的制造方法,其特征在于:所述制造方法包括下列步骤:
提供一基底;
于所述基底的上表面进行半蚀刻工艺而形成多个第一凹部;
填充反光材料于所述第一凹部内;
设置一发光二极管芯片于所述基底的上表面,并以导线连接相邻的所述发光二极管芯片;
设置一透明封装层于所述基底的上表面,以包覆所述发光二极管芯片与所述反光材料;以及
于所述基底的下表面进行半蚀刻工艺,以形成对应连通所述第一凹部的第二凹部。
9.如权利要求8所述的发光二极管封装构造的制造方法,其特征在于:在设置所述发光二极管芯片于所述基底的上表面上的步骤之后,进一步包含一步骤:于每一所述发光二极管芯片的发光面上设置荧光粉层。
10.如权利要求8所述的发光二极管封装构造的制造方法,其特征在于:所述反光材料是通过孔版印刷工艺填充于所述第一凹部内。
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