[发明专利]太阳能芯片的抗反射层的检测方法及检测装置

说明书

本申请为分案申请，其母案的申请号为：201010219981.0，申请日为：2010年7月1日，申请人为：立晔科技股份有限公司，发明名称为：太阳能芯片的抗反射层的检测方法及检测装置。

技术领域

本发明涉及一种太阳能芯片的抗反射层的检测方法及检测装置，可快速完成太阳能芯片上的抗反射层厚度的测量。

背景技术

随着地球资源的匮乏及环保议题的抬台，世界各国逐渐察觉到发展新替代能源的急迫性，其中太阳能发电便是最被看好的一项技术。太阳能芯片电池依工艺的不同，大概可被区分为硅晶太阳能电池及薄膜太阳能电池，目前硅晶太阳能电池的市占率约为80%以上。

请参阅图1，为现有太阳能芯片的构造示意图。如图所示，太阳能芯片10主要包括有一N型半导体材料11、一P型半导体材料13及一抗反射层15，其中N型半导体材料11及P型半导体材料13以层叠方式设置，而抗反射层15则设置在N型半导体材料11表面。

在应用时太阳光可穿透抗反射层15并投射在N型半导体材料11及/或P型半导体材料13上，借由抗反射层15的设置将可以让更多的光源进入半导体材料11/13，并有利于提高太阳能芯片10产生电能的效率。当光源照射在太阳芯片10时，太阳能芯片10内带负电的电子将会往N型半导体材料11的表面移动，并可以设置在N型半导体材料11上的导电线17将其导出，而太阳能芯片10内带正电的电洞则会往P型半导体材料13的表面移动，并可进一步以设置在P型半导体材料13上的导电线19将其导出。

抗反射层15主要由一绝缘材料所制成，且抗反射层15的厚度会对导入太阳能芯片10的光源的比例造成影响。一般在对太阳能芯片10的抗反射层15的厚度进行测量时，主要是通过破坏性的扫瞄式电子显微镜(SEM)分析抗反射层15的厚度，然而此一测量方法不仅效率不佳，更无法在产在线自动化进行检测。

发明内容

本发明的主要目的，在于提供一种太阳能芯片的抗反射层的检测方法，主要将一白色光源投射在太阳能芯片上，并将太阳能芯片的颜色转换为色度，借此将可进一步以色度推算出太阳能芯片上的抗反射层的厚度。

本发明的次要目的，在于提供一种太阳能芯片的抗反射层的检测方法，主要对太阳能芯片进行影像的撷取并取得一影像数据，并将影像数据区分成多个影像单元，而后再将各个或部分影像单元上的RGB数值转换到HSV的色彩空间，以得知各个或部分影像单元的色度，借此将由各个或部分影像单元的色度推算出太阳能芯片的抗反射层的厚度。

本发明的又一目的，在于提供一种太阳能芯片的抗反射层的检测方法，主要对太阳能芯片进行影像的撷取并取得一影像数据，并对该影像数据上的各个或部分像素进行分析，以得知太阳能芯片的抗反射层的厚度。

本发明的又一目的，在于提供一种太阳能芯片的抗反射层的检测方法，其中太阳能芯片上的抗反射层的厚度与影像单元(抗反射层)的色度约呈现二次方反比的关系，并可由色度得知太阳能芯片的抗反射层的厚度。

本发明的又一目的，在于提供一种太阳能芯片的抗反射层的检测装置，主要通过摄像单元对太阳能芯片进行影像的撷取，并以运算单元将影像数据的各个或部分像素的RGB数值转换到HSV的色彩空间，而后再对各个或部分像素上的色度进行运算，以得知太阳能芯片的各个区域的抗反射层的厚度。

本发明的又一目的，在于提供一种太阳能芯片的抗反射层的检测装置，可将摄像单元设置在太阳能芯片输送的路径上，并对太阳能芯片进行影像的撷取，而后再以运算单元对所取得的影像数据进行分析，借此将可以在产在线自动化进行抗反射层厚度的检测，并有利于提高检测的效率。

本发明的又一目的，在于提供一种太阳能芯片的抗反射层的检测装置，可由检测的结果得知单一太阳能芯片上的抗反射层的厚度是否均匀，并进一步依据检测的结果对不同的太阳能芯片进行分类。

为了达到上述目的，本发明提供一种太阳能芯片的抗反射层厚度的检测方法，包括有以下步骤：对一太阳能芯片进行影像撷取，并产生一影像数据，其中太阳能芯片表面设置有一抗反射层；将影像数据区分成多个影像单元，并取得影像单元的色度；及由影像单元的色度推算出抗反射层的厚度。

为了达到上述目的，本发明还提供一种太阳能芯片的抗反射层厚度的检测装置，包括有：一摄像单元，用以对一太阳能芯片进行影像撷取，并产生一影像数据，其中太阳能芯片表面设置有一抗反射层；及一运算单元，由摄像单元接收影像数据，并将影像数据区分成多个影像单元，并取得影像单元的色度，而后再由影像单元的色度推算出抗反射层的厚度。