[发明专利]太阳能芯片的抗反射层的检测方法及检测装置无效
| 申请号： | 201210405228.X | 申请日： | 2010-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN102927918A | 公开（公告）日： | 2013-02-13 |
| 发明（设计）人： | 王琼姿 | 申请（专利权）人： | 立晔科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;祁建国 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 太阳能 芯片 反射层 检测 方法 装置 | ||
1.一种太阳能芯片的抗反射层厚度的检测方法，其特征在于，包括有以下步骤：
对一太阳能芯片进行影像撷取，并产生一影像数据，其中该太阳能芯片表面设置有一抗反射层；
将该影像数据区分成多个影像单元，并取得该影像单元的色度；及
由该影像单元的色度推算出该抗反射层的厚度。
2.根据权利要求1所述的太阳能芯片的抗反射层厚度的检测方法，其特征在于，该影像数据由多像素所组成，且该影像单元包括有至少一像素。
3.根据权利要求1所述的太阳能芯片的抗反射层厚度的检测方法，其特征在于，包括有以下步骤：
取得该影像单元的RGB数值；
将该影像单元的RGB数值转换到HSV的色彩空间。
4.根据权利要求1所述的太阳能芯片的抗反射层厚度的检测方法，其特征在于，该抗反射层的厚度与该影像单元的色度为呈二次方反比的关系。
5.根据权利要求1所述的太阳能芯片的抗反射层厚度的检测方法，其特征在于，该抗反射层为氮化硅。
6.一种太阳能芯片的抗反射层厚度的检测装置，其特征在于，包括有：
一摄像单元，用以对一太阳能芯片进行影像撷取，并产生一影像数据，其中该太阳能芯片表面设置有一抗反射层；及
一运算单元，由该摄像单元接收该影像数据，并将该影像数据区分成多个影像单元，并取得该影像单元的色度，而后再由该影像单元的色度推算出该抗反射层的厚度。
7.根据权利要求6所述的太阳能芯片的抗反射层厚度的检测装置，其特征在于，包括有一输送单元用以输送该太阳能芯片，而该摄像单元则设置于该输送单元上，并用以对该输送单元上的太阳能芯片进行摄像。
8.根据权利要求6所述的太阳能芯片的抗反射层厚度的检测装置，其特征在于，该影像数据由多像素所组成，且该影像单元包括有至少一像素。
9.根据权利要求6所述的太阳能芯片的抗反射层厚度的检测装置，其特征在于，该运算单元取得该影像单元的RGB数值，并用以将该影像单元的RGB数值转换到HSV的色彩空间。
10.根据权利要求9所述的太阳能芯片的抗反射层厚度的检测装置，其特征在于，包括有一发光单元用以投射一白色光源至该太阳能芯片上。
11.根据权利要求10所述的太阳能芯片的抗反射层厚度的检测装置，其特征在于，包括有一检测单元用以对该照明光源所产生的白色光源进行检测。
12.根据权利要求6所述的太阳能芯片的抗反射层厚度的检测装置，其特征在于，该抗反射层的厚度与该影像单元的色度为呈二次方反比的关系。
13.根据权利要求6所述的太阳能芯片的抗反射层厚度的检测装置，其特征在于，该抗反射层为氮化硅。
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