[发明专利]显示面板及其检测方法

说明书

技术领域

本发明属于显示面板检测技术领域，具体涉及一种显示面板及其检测方法。

背景技术

在液晶显示面板(LCD)、有机发光二极管显示面板(OLED)等显示面板中，有源驱动的应用越来越普遍，而有源驱动主要通过薄膜晶体管阵列(TFT)基板实现。

如图1所示，薄膜晶体管阵列基板9上设有多根相互交叉形成网格的栅极线(Gate Line)(图中未示出)和数据线2(Data Line)，栅极线和数据线2的每个交叉点限定一个薄膜晶体管，薄膜晶体管阵列基板9上还设有与栅极线平行的公共电极线1(COM Line)。其中，各引线(栅极线、数据线2、公共电极线1)在交叉点被绝缘层隔开，且每条引线的输入端11、21均与各自的驱动芯片19、29(Driver IC)相连，从而可分别传递各自的信号。薄膜晶体管阵列基板9的侧面连接柔性线路板7(FPC)，柔性线路板7远离薄膜晶体管阵列基板9的一侧连接印刷线路板8(PCB)，上述各驱动芯片19、29可分别设在柔性线路板7上(COF方式，Chip On Film Type)，也可设在薄膜晶体管阵列基板8上(COG方式，Chip On Glass Type)。

在显示面板中，薄膜晶体管阵列基板9是与另一基板(如彩膜基板或有机发光二极管阵列基板等)组装在一起的，薄膜晶体管阵列基板9的显示区91(即引线1、2相互交叉而形成有薄膜晶体管阵列的区域)被另一基板挡住，而各引线输入端11、12则可暴露在外。

当显示面板出现显示不良时，可能是由各引线1、2的故障引起的，因此引线1、2的检测是显示面板检测的重要组成部分。现有的显示面板检测(以对公共电极线1的检测为例)主要采取以下方法：用检测探针(Pin)接触公共电极线的末端12(即远离公共电极驱动芯片19的一端，其超出显示区91外)，从而接收由公共电极驱动芯片19发出并经公共电极线1传递的驱动信号，通过分析该信号检测公共电极线1是否有故障。

发明人发现现有技术中至少存在如下问题：显示面板中薄膜晶体管阵列基板9已经与另一基板组装在一起，其显示区91被另一基板挡住，检测探针只能接触超出显示区91的公共电极线末端12，因此只能检测出整根公共电极线1是否有故障，但无法对公共电极线1进行分区段的检测，也就不能确定公共电极线1的故障出在什么位置，由此降低了不良解析的效率和准确性。

发明内容

本发明所要解决的技术问题包括，针对现有技术中无法对显示面板的引线进行分区段检测的问题，提供一种可对引线进行分区段检测的显示面板检测方法。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示面板检测方法，所述显示面板包括设有多根相互交叉的第一引线和第二引线的薄膜晶体管阵列基板，所述第一引线的输入端连接第一驱动芯片，第二引线的输入端连接第二驱动芯片；所述显示面板引线检测方法包括：

将待测第一引线与检测用第二引线在二者的交叉点导通，并在位于所述检测用第二引线输入端中的阻断点阻断检测用第二引线内的信号传输；

从位于所述检测用第二引线输入端中或与检测用第二引线输入端相连的检测点采集检测信号，所述检测点或检测点与第二引线的连接点比所述阻断点远离第二驱动芯片。

其中，“检测点或检测点与第二引线的连接点比阻断点远离第二驱动芯片”是指从各点在第二引线上的连接顺序来看，检测点(或连接点)在第二引线上的位置比阻断点离第二驱动芯片更远；而非指它们与第二驱动芯片间的空间位置关系。或者说，从第二驱动芯片发出的信号应当先到达阻断点后才能到达检测点，而来自显示区中的第二引线的检测信号应先到达检测点后才能到达阻断点；这是为了使阻断点既可阻断来自第二驱动芯片的干扰信号，又不会妨碍第二引线中检测信号的传递。

同时，以下叙述的“远离”的意义均与上述概念相同，都是指各点在引线上的顺序，而非空间位置关系。

本发明的显示面板检测方法中，先将待测第一引线与检测用第二引线导通，并切断由第二驱动芯片向检测用第二引线发出的信号，因此由第一驱动芯片发出并进入待测第一引线的信号会经过待测第一引线与检测用第二引线的交叉点传入检测用第二引线输入端，故可在第二引线输入端采集信号进行检测；也就是说，本发明实际上利用检测用第二引线来传递待测第一引线的信号，而由于每根第一引线都与多根第二引线在不同位置相交，因此只要选择不同的第二引线作为检测用第二引线，即可对第一引线的不同位置进行检测，从而实现了对引线的分区段检测，由此提高了不良解析的效率和准确性。