[发明专利]显示面板及其检测方法

权利要求书

1.一种显示面板检测方法，所述显示面板包括设有多根相互交叉的第一引线和第二引线的薄膜晶体管阵列基板，所述第一引线的输入端连接第一驱动芯片，第二引线的输入端连接第二驱动芯片，其特征在于，所述显示面板引线检测方法包括：

将待测第一引线与检测用第二引线在二者的交叉点导通，并在位于所述检测用第二引线输入端中的阻断点阻断检测用第二引线内的信号传输；

从位于所述检测用第二引线输入端中或与检测用第二引线输入端相连的检测点采集检测信号，所述检测点或检测点与第二引线的连接点比所述阻断点远离第二驱动芯片。

2.根据权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述显示面板还包括：位于所述薄膜晶体管阵列基板侧面的印刷线路板；

所述检测用第二引线输入端至少部分位于所述印刷线路板上，所述阻断点为位于所述印刷线路板上的开关结构。

所述检测点为位于所述印刷线路板上的触点。

3.根据权利要求1或2所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述将待测第一引线与检测用第二引线在二者的交叉点导通包括：

用激光将待测第一引线与检测用第二引线的交叉点焊接导通。

4.根据权利要求1或2所述的显示面板检测方法，其特征在于，在从检测点采集检测信号之前，还包括：

切断所述待测第一引线，所述切断的位置比待测第一引线与检测用第二引线的交叉点更远离所述待测第一引线输入端；

和/或

切断所述检测用第二引线，所述切断的位置比检测用第二引线与待测第一引线的交叉点更远离所述检测用第二引线输入端。

5.根据权利要求4所述的显示面板检测方法，其特征在于，

切断所述待测第一引线包括：用激光切断所述待测第一引线；

和/或

切断所述检测用第二引线包括：用激光切断所述检测用第二引线。

6.根据权利要求1或2中任意一项所述的显示面板检测方法，其特征在于，

所述第一引线为公共电极线，所述第二引线为数据线；

或

所述第一引线为数据线，所述第二引线为公共电极线；

或

所述第一引线为栅极线，所述第二引线为数据线；

或

所述第一引线为数据线，所述第二引线为栅极线。

7.一种显示面板，包括：

设有多根相互交叉的第一引线和第二引线的薄膜晶体管阵列基板，所述第一引线的输入端连接第一驱动芯片，所述第二引线的输入端连接第二驱动芯片；

位于所述薄膜晶体管阵列基板侧面的印刷线路板；

其特征在于，

至少部分所述第二引线为检测用第二引线，所述检测用第二引线的输入端至少部分位于所述印刷线路板上；

所述印刷线路板上的检测用第二引线输入端中设有用于阻断检测用第二引线中信号传输的开关结构；

所述印刷线路板上设有触点，所述触点位于检测用第二引线输入端中或与检测用第二引线输入端相连，且所述触点或触点与检测用第二引线的连接点比所述开关结构远离第二驱动芯片。

8.根据权利要求7所述的显示面板，其特征在于，还包括：连接在所述薄膜晶体管阵列基板侧面的柔性线路板；

所述第二驱动芯片位于所述柔性线路板上，所述印刷线路板连接在所述柔性线路板远离薄膜晶体管阵列基板的一侧。

9.根据权利要求7或8所述的显示面板，其特征在于，

所述开关结构为0跳变电阻、划线电阻器、三极管、螺丝开关中的任意一种。

10.根据权利要求7或8所述的显示面板，其特征在于，

所述第一引线为公共电极线，所述第二引线为数据线；

或

所述第一引线为数据线，所述第二引线为公共电极线；

或

所述第一引线为栅极线，所述第二引线为数据线；

或

所述第一引线为数据线，所述第二引线为栅极线。