[发明专利]在石英晶振自动测试系统运行中测量新加入被测件的方法有效
| 申请号: | 201210388333.7 | 申请日: | 2012-10-12 |
| 公开(公告)号: | CN102928692A | 公开(公告)日: | 2013-02-13 |
| 发明(设计)人: | 黄河 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第二十研究所 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/01 |
| 代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华 |
| 地址: | 710068*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 石英 自动 测试 系统 运行 测量 加入 被测件 方法 | ||
技术领域
本发明属于测量技术领域,涉及在石英晶振自动测试系统运行中加入新被测件的方法,可用于石英晶体振荡器的计量检定、校准、测量、测试、检验和生产。
背景技术
石英晶体振荡器按国家检定规程所对应的检定对象分为两大类:普通晶振及高稳晶振。普通晶振对应的检定规程为《JJG180-2002电子测量仪器内石英晶体振荡器检定规程》,测量的主要参数有:开机特性、日频率波动、1秒频率稳定度、频率复现性、频率准确度。测量时间最少为3天;高稳晶振对应的检定规程为《JJG181-2005石英晶体频率标准检定规程》,测量的主要参数有:短期频率稳定度(1ms、10ms、100ms、1s、10s)、日老化率、频率准确度。测量时间最少为8天。
目前国内的石英晶体振荡器自动测试系统主要有两类。一类是通过控制器及切换开关将测试数据打印出来,再输入到计算机的相应程序中进行数据处理,得到测量结果。此类系统不能做到数据的自动处理、被测件的自动加电及断电。典型的设备是中国电子科技集团公司第二十研究所自行研制的“多路自动控制器”;另一类是通过计算机或其他高速处理器控制控制器及切换开关获得测试数据,将测试数据存储在存储器中并进行数据处理得到测量结果。典型的设备是石家庄无线电四厂或西安宏泰时频生产的“石英晶体振荡器自动测试系统”。此类系统需要被测件积攒到一定数量后再进行测量,只能做到一批被测件测量完成后,再新加一批测量。这样就造成如果测试通道有闲置,有新被测件送来而不能及时测量,只能等到前一批测量完成后再开始测量新被测件,测量效率极低,不能做到被测件的随到随测。
发明内容
本发明的目的在于针对上述已有技术的不足,提出一种在石英晶振自动测试系统运行中测量新加入被测件的方法,以提高测量效率。
为实现上述目的,本发明给出如下两种技术方案:
技术方案1,在石英晶振自动测试系统运行中测量新加入普通晶振被测件的方法,包括如下步骤:
(1)将石英晶振输出频率的原始数据测量的时间间隔均设置为1小时,石英晶振自动测试系统启动后,按每隔1小时的时间间隔测量原来已经加入的被测件的相对平均频率偏差,作为原始测量数据;
(2)在石英晶振自动测试系统运行中加入新的普通晶振被测件:
(2a)在1小时时间间隔内,当有新的普通晶振被测件加入时,首先判断原来已经加入的被测件的相对平均频率偏差测量是否完成,若没有完成,则继续等待;若已完成,则根据提示内容加入新的普通晶振被测件,提示内容包括:送测单位、被测件名称、被测件型号、被测件编号、被测件生产商、被测件的频率标称值、被测件的测量依据、被测件预热时间;
(2b)在下一个测量时刻到达后,先按顺序测量原来已经加入的被测件的相对平均频率偏差,然后再按新的普通晶振被测件加入顺序依次对其加电;
(3)依据《JJG180-2002电子测量仪器内石英晶体振荡器检定规程》,测量新的普通晶振被测件的性能:
(3a)新的普通晶振被测件在加电1小时后,将测量相对平均频率偏差的取样时间选为10s,每隔1小时测量1组,每组连续测得3个相对平均频率偏差,取3个相对平均频率偏差的平均值作为每组的测量结果,共测25组,得到25个测量数据;将测量数据代入到所述JJG180-2002检定规程的相应公式中,计算出新的普通晶振被测件的开机特性及日频率波动,并根据日频率波动测量结果给出新的普通晶振被测件的频率准确度,该频率准确度比日频率波动低一个数量级;
(3b)25个测量数据测量完成后,将新的普通晶振被测件断电,同时取25个测量数据中的第25个测量数据作为第一次测量结果,再对新的普通晶振被测件持续断电24小时;断电24小时后,给新的普通晶振被测件再次加电,加电1小时后,将测量相对平均频率偏差的取样时间选为10s,连续测得3个相对平均频率偏差,取3个相对平均频率偏差的平均值作为第二次测量结果;将两次测量结果数据代入到所述JJG180-2002检定规程的相应公式中,计算出新的普通晶振被测件的频率复现性;
(3c)在新的普通晶振被测件再次加电到2小时时,先测量其它测量通道上的被测件的相对平均频率偏差,然后将测量新的普通晶振被测件的相对平均频率偏差的取样时间选为1s,并连续测得101个相对平均频率偏差,再将101个相对平均频率偏差代入到所述JJG180-2002检定规程的相应公式中,计算出新的普通晶振被测件的1s频率稳定度;
(4)重复步骤(2)~(3),对后续的新普通晶振被测件继续进行测量。
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