[发明专利]在石英晶振自动测试系统运行中测量新加入被测件的方法有效
| 申请号: | 201210388333.7 | 申请日: | 2012-10-12 |
| 公开(公告)号: | CN102928692A | 公开(公告)日: | 2013-02-13 |
| 发明(设计)人: | 黄河 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第二十研究所 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/01 |
| 代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华 |
| 地址: | 710068*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 石英 自动 测试 系统 运行 测量 加入 被测件 方法 | ||
1.一种在石英晶振自动测试系统运行中测量新加入普通晶振被测件的方法,包括如下步骤:
(1)将石英晶振输出频率的原始数据测量的时间间隔均设置为1小时,石英晶振自动测试系统启动后,按每隔1小时的时间间隔测量原来已经加入的被测件的相对平均频率偏差,作为原始测量数据;
(2)在石英晶振自动测试系统运行中加入新的普通晶振被测件:
(2a)在1小时时间间隔内,当有新的普通晶振被测件加入时,首先判断原来已经加入的被测件的相对平均频率偏差测量是否完成,若没有完成,则继续等待;若已完成,则根据提示内容加入新的普通晶振被测件,提示内容包括:送测单位、被测件名称、被测件型号、被测件编号、被测件生产商、被测件的频率标称值、被测件的测量依据、被测件预热时间;
(2b)在下一个测量时刻到达后,先按顺序测量原来已经加入的被测件的相对平均频率偏差,然后再按新的普通晶振被测件加入顺序依次对其加电;
(3)依据《JJG180-2002电子测量仪器内石英晶体振荡器检定规程》,测量新的普通晶振被测件的性能:
(3a)新的普通晶振被测件在加电1小时后,将测量相对平均频率偏差的取样时间选为10s,每隔1小时测量1组,每组连续测得3个相对平均频率偏差,取3个相对平均频率偏差的平均值作为每组的测量结果,共测25组,得到25个测量数据;将测量数据代入到所述JJG180-2002检定规程的相应公式中,计算出新的普通晶振被测件的开机特性及日频率波动,并根据日频率波动测量结果给出新的普通晶振被测件的频率准确度,该频率准确度比日频率波动低一个数量级;
(3b)25个测量数据测量完成后,将新的普通晶振被测件断电,同时取25个测量数据中的第25个测量数据作为第一次测量结果,再对新的普通晶振被测件持续断电24小时;断电24小时后,给新的普通晶振被测件再次加电,加电1小时后,将测量相对平均频率偏差的取样时间选为10s,连续测得3个相对平均频率偏差,取3个相对平均频率偏差的平均值作为第二次测量结果;将两次测量结果数据代入到所述JJG180-2002检定规程的相应公式中,计算出新的普通晶振被测件的频率复现性;
(3c)在新的普通晶振被测件再次加电到2小时时,先测量其它测量通道上的被测件的相对平均频率偏差,然后将测量新的普通晶振被测件的相对平均频率偏差的取样时间选为1s,并连续测得101个相对平均频率偏差,再将101个相对平均频率偏差代入到所述JJG180-2002检定规程的相应公式中,计算出新的普通晶振被测件的1s频率稳定度;
(4)重复步骤(2)~(3),对后续的新普通晶振被测件继续进行测量。
2.根据权利要求1所述的在石英晶振自动测试系统运行中测量新加入普通晶振被测件的方法,所述步骤(2)及(3)中的相对平均频率偏差测量,是先通过测量仪器测量在取样时间τ内的新的普通晶振被测件的频率实际值的平均值fx;然后,代入到公式y(τ)=(fx-f0)/f0中,计算出新的普通晶振被测件的相对平均频率偏差y(τ),式中f0为新的普通晶振被测件的频率标称值;
所述测量仪器是指:频率计、计数器、比相仪、时间间隔测量仪、频标比对器、频差倍增器和双混频时差测量仪中的任何一种。
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