[发明专利]一种TFT-LCD阵列基板及其测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶面板的测试技术，尤其涉及一种薄膜晶体管液晶显示器（Thin Film Transistor liquid crystal display, TFT-LCD）阵列基板及其测试方法。

背景技术

TFT-LCD是目前唯一在亮度、对比度、功耗、寿命、体积和重量等综合性能上全面赶上和超过阴极射线管（Cathode Ray Tube, CRT）显示器的显示器件，它具有性能优良、大规模生产特性好以及自动化程度高等优点，迅速成为目前的主流产品。TFT-LCD 中的液晶面板由薄膜晶体管阵列基板（array基板）、彩色滤光阵列基板（CF基板）和夹在该两基板间的液晶共同构成。其中，Array基板与CF基板是经由化学或物理的方法成膜，然后曝光，显影，蚀刻得到设计所需的阵列基板。在TFT-LCD 液晶面板出货前，为保证产品质量，必须经由一道检测程序，主要为检查液晶面板中各TFT结构是否正常。

现有的液晶面板测试的技术中，主要采用测试短棒（Short bar）面板布线方式来测试。如图1所示，示出了一种典型的TFT-LCD阵列基板的结构示意图；其中，该液晶面板包括显示区1和位于显示区外围的外围区域2。

在显示区1内设置有多条相互垂直的数据线10和栅线12，每条数据线10和栅线12交叉处连接一个TFT单元14，每个TFT单元14包括有TFT、液晶电容和存储电容。每个TFT单元14中的TFT的源极连接该数据线10，其栅极连接该栅线12。在外围区域内设置有：第一测试短棒，其上设置有多条数据测试线30（分别对应于红绿绿蓝R/G/B的测试），分别和显示区1中各数据线10分别连接，用于向这些数据线10发送数据测试信号；第二测试短棒，其上设置有栅线测试线40和公共电极线41，其中，栅线测试线40和显示区1中各栅线12相连接，用于向这些栅线发送栅线测试信号；公共电极线41用于向显示区1中各TFT单元14提供公共电极。其中，数据测试信号和栅线测试信号均可以是方波信号，通过上述信号，即可以点亮各TFT单元来进行缺陷检查。

当上述检测完成后，即可以从位置6切开，把外围区域2和显示区1进行分离，然后将该去除了外围区域2的液晶面板出货到下一工序（例如进行后续制程）。 

发明人发现，在现在的技术中，在下一工序中如果发现产品存在问题，由于液晶面板的测试棒已被分离，故不能再单独针对液晶面板进行测试，从而不易甄别不良产品的其出现的问题是在液晶面板上还是在后续的制程上。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于，提供一种TFT-LCD阵列基板以及其测试方法，可以对TFT-LCD阵列基板进行二次测试，以克服现有技术中对出货后的TFT-LCD阵列基板不能够进行再次测试的不足之处。

为了解决上述技术问题，一方面，本发明的实施例提供了一种TFT-LCD阵列基板，包括显示区和位于所述显示区外围的外围区域，所述显示区内设置有栅线和数据线，所述外围区域内设置有：

第一测试短棒，其上设置有多条测试线，用于分别向显示区中各数据线发送数据测试信号；

第二测试短棒，其上设置有栅线测试线，用于向显示区中各栅线发送栅线测试信号；

在所述第一测试短棒的数据测试线与显示区的一条数据线连接处，或在第二测试短棒的栅线测试线与显示区的至少一条栅线连接处设置有包含有第一连接层和第二连接层的连接装置；

其中，所述连接装置包括：

第一连接层，其一端连接所述数据测试线或栅线测试线，另一端连接对应的数据线或栅线；

第二连接层，设置在所述第一连接层下面，至少部分与所述第一连接层位置重叠；

绝缘层，设置在所述第一连接层与所述第二连接层之间；

保护层，设置在所述第一连接层上面。

优选地，在所述第一连接层与所述第二连接层重叠的部份上至少设置有一个可经激光打断的第一区域；

在所述第一连接层的所述第一区域两侧分别设置有一个可经激光焊接与所述第二连接层连通的第二区域。

相应地，本发明的另一方面提供一种TFT-LCD阵列基板的测试方法，包括：

所述第一测试短棒和第二测试短棒通过第一连接层向显示区中的各数据线和栅线发送测试信号，进行首次测试；

在首次测试完成后，断开所述第一测试短棒和第二测试短棒与所述显示区的各数据线和栅线之间的电连接；

通过第二连接层，重新建立所述第一测试短棒和第二测试短棒与所述显示区的各数据线和栅线之间电连接；