[发明专利]具有多引脚装置触点的接触器

权利要求书

1.一种用于自动化测试包含多个单独电极的被测装置DUT的接触器组合件，所述多个单独电极包含第一电极，所述接触器组合件包括：

测试器负载板；

耦合到所述测试器负载板的接触器主体，以及

由所述接触器主体携带的多个接触器引脚，包括电耦合到所述测试器负载板的第一接触器引脚和第二接触器引脚，其中所述测试器负载板经配置以将所述多个接触器引脚耦合到自动测试装备ATE以测试所述DUT，

其中所述第一接触器引脚和所述第二接触器引脚定位成都接触所述第一电极，且其中在所述DUT的所述自动化测试期间，到所述第一接触器引脚的第一路径与到所述第二接触器引脚的第二路径通过所述接触器组合件电短接在一起成为电并联的，从而提供到所述第一电极的冗余路径。

2.根据权利要求1所述的接触器组合件，其中所述测试器负载板包含多个衬垫，所述多个衬垫包含耦合到所述第一接触器引脚的第一衬垫和耦合到所述第二接触器引脚的第二衬垫，且其中所述第一衬垫与所述第二衬垫在所述负载板上短接在一起。

3.根据权利要求1所述的接触器组合件，其中所述接触器组合件包含附接到所述接触器主体的多个套筒，且其中所述多个接触器引脚中的相应接触器引脚处于所述多个套筒中的相应套筒中。

4.根据权利要求1所述的接触器组合件，其中所述接触器组合件包含附接到所述接触器主体的多个套筒，且其中所述第一接触器引脚和所述第二接触器引脚处于所述多个套筒中的一个套筒中且通过所述套筒而短接在一起。

5.根据权利要求1所述的接触器组合件，其中所述第一接触器引脚和所述第二接触器引脚提供到所述第一电极的平面接触。

6.根据权利要求1所述的接触器组合件，其中所述第一接触器引脚和所述第二接触器引脚提供到所述第一电极的非平面接触。

7.一种自动化测试包含多个单独电极的被测装置DUT的方法，所述多个单独电极包含第一电极，所述方法包括：

使所述第一电极上的第一位置与第一接触器引脚接触，从而提供第一路径，且使所述第一电极上的另一位置与至少一第二接触器引脚接触，从而提供至少一个冗余第二路径，其中所述第一路径与所述第二路径沿着到自动测试装备ATE的电路路径而电连结在一起，以及

使用所述ATE自动测试所述DUT，其中所述第一接触器引脚与所述第二接触器引脚电并联以提供到所述第一电极的冗余路径，以使得所述第一接触器引脚或所述第二接触器引脚可提供到所述第一电极的电接触。

8.根据权利要求7所述的方法，其中所述DUT的所述多个单独电极是平面的，且其中所述第一接触器引脚和所述第二接触器引脚提供到所述第一电极的平面接触。

9.根据权利要求7所述的方法，其中所述DUT的所述多个单独电极包括焊球。

10.根据权利要求7所述的方法，其中所述DUT的所述多个单独电极是非平面的，且其中所述第一接触器引脚和所述第二接触器引脚提供到所述第一电极的非平面接触。

11.根据权利要求10所述的方法，其中所述DUT的所述多个单独电极包括多个引线，所述多个引线包含第一引线，其中所述第一引线为非平面引线，且其中所述第一位置为所述第一引线的低标高部分，且所述另一位置为所述第一引线的高标高部分。

12.根据权利要求7所述的方法，其中所述接触器组合件包含附接到所述接触器主体的多个套筒，其中所述多个接触器引脚中的相应接触器引脚处于所述多个套筒中的相应套筒中。

13.根据权利要求7所述的方法，其中所述接触器组合件包含附接到所述接触器主体的多个套筒，其中所述第一接触器引脚和所述第二接触器引脚处于所述多个套筒中的一个套筒中且通过所述套筒而短接在一起。