[发明专利]用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法和装置。

背景技术

当在电子元件的制造期间或之后对电子元件进行测试时，测试程序可能会涉及到极端测试（corner testing）。在极端测试期间，被测器件（DUT）在其几个操作参数同时处于极限水平的情形下，即使各个操作参数的每个值均处于该操作参数的特定范围内，而针对其可操作性被进行测试。因此，极端状况与仅在几个操作参数值处于其额定范围的“边缘”时（即，几个操作参数采用其对应的最小额定值或最大额定值（极限值）时）才会出现的问题或情况相对应。极端状况的再现、测试和最优化通常更加困难和昂贵，因为它们要求多个操作参数的极限配置。除此之外，由于某些生产商认为其产品同时在多个极限设置下操作的机会非常小，所以他们往往不愿意对极端状况进行彻底测试。

极端测试通常用在半导体器件的前硅（pre-Si）和后硅（post-Si）验证中，以确保DUT在规格、工艺变化和正常条件的其他偏差所带来的所有限制下的功能。这些测试面临上述问题，另外，由于操作参数的数量一般较大，它们会消耗大量珍贵的测试时间。100%覆盖所有极端状况的穷举或完全测试涉及到对最小和最大操作参数的所有可能组合下的器件进行测试和/或模拟。这种测试和/或模拟的数量随着验证空间的大小，即，器件的所考虑的操作参数的数量而按指数增加，因此，测试和/或模拟时间也随之增加。毫无疑问，不完全测试可缩短测试时间，但这会导致检测不到应用故障。蒙特卡罗测试会对整个验证空间进行探测，但仅能针对无限数量的试运行和/或模拟运行实现所有极端状况的100%（平均）覆盖。

发明内容

各个实施方式均提供了一种用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法，该方法可产生用于大量（例如，1至100个）极端状况或极端条件的压缩极端测试，从而可确保在可行测试时间内100%覆盖前硅和/或后硅模拟中的极端状况或极端条件。

根据各个实施方式，提供了一种用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法。该方法可包括：确定第一中间集组，每个中间集均包含第一数量的参数的组合，所述第一数量的参数选自包含预定数量的参数的预定参数集，其中，所述参数表示电子元件的操作参数，每个参数均可具有多个参数值；确定第二参考集组，其中，第二组包含多个集的集合，每个集均包括相应中间集的参数的参数值的所有可能组合；从一组预定集中选择具有第二数量的测试集的第三组，其中，每个预定集均包括预定参数集中的所有参数的参数值的不同组合，使得第二集为多个集的集合的子集，每个集均包括相应测试集的所有参数的第一数量的参数值的所有可能组合，其中，所述集的数量等于第三组内的测试集的第二数量的。

附图说明

在附图中，在所有不同的视图中，相同的参考符号一般表示相同的部分。附图不一定按比例绘制，而通常强调对本发明的原理进行图解说明。在以下说明中，参考以下附图对本发明的各个实施方式进行说明，在附图中：

图1示出了根据各个实施方式的用于确定电子元件的操作参数的测试集的方法的流程图；

图2示出了根据各个实施方式的穷举极端测试（exhaustive corner test）和压缩极端测试（compressed corner test）的测试时间的比较；

图3示出了算法的阶数与输入参数的相关性；以及

图4A和图4B示出了包含在通过根据各个实施方式的方法生成的测试列表中的试运行测试的数量的相对减少。

具体实施方式

以下详细说明参考了附图，附图通过图解的方式示出了用于确定电子元件的操作参数的测试集的方法和装置的各个实施方式的具体细节。

本文使用的单词“示例性”用于意指“作为示例、实例或例证”。本文描述为“示例性”的任何实施方式或设计并非一定被理解为比其他实施方式或设计优选或有利。

根据用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法的各个实施方式，可生成用于一指定组的极端状况或极端条件和用于指定压缩状况或条件的一组极端测试，其中，在可行测试和/或模拟时间内，所述组中的极端测试的数量可被最小化，极端状况的覆盖率可被最大化。在以下说明中，术语“测试”应实现实际的后硅（后时代硅）硬件测试以及前硅（前时代）模拟。

上文使用的术语“压缩”可表示：将包括所有可能的极端状况或极端条件的测试的穷举极端测试减少至一组减少的或压缩的极端状况或极端条件（可在最后进行测试），并提供充足的关于极端状况或极端条件下的DUT的特性的信息。