[发明专利]用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法和装置

权利要求书

1.一种用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法，所述方法包括：

确定第一中间集组，每个中间集均包括从包含预定数量的参数的预定参数集选择的第一数量的参数的组合，其中，所述参数表示所述电子元件的操作参数，并且每个参数均可以具有大量参数值；

确定第二参考集组，其中，所述第二组包含多个集的集合，每个集均包含相应中间集的参数的参数值的所有可能组合；

在一组预定集中选择具有第二数量的测试集的第三组，其中，每个预定集均包含来自所述预定参数集中的所有参数的参数值的不同组合，使得所述第二组为多个集的集合的子集，每个集均包括相应测试集的所有参数的第一数量的参数值的所有可能组合，其中，所述集的数量等于所述第三组内的测试集的所述第二数量。

2.根据权利要求1所述的方法，

其中，所述每个参数均具有多个参数值。

3.根据权利要求2所述的方法，

其中，所述多个参数值中的每个的多个参数值中的至少一个对应于最小额定值或最大额定值。

4.根据权利要求1所述的方法，

其中，所述一组预定集包含所述预定参数集中的所有参数的预定数量的参数值的所有可能组合。

5.根据权利要求1所述的方法，

其中，所述一组预定集包含来自所述预定参数集中的所有参数的预定数量的参数值的所有可能组合中的随机选择组合。

6.根据权利要求1所述的方法，

其中，所述第一组包含从所述预定参数集中选择的所述第一数量的参数的所有可能组合。

7.根据权利要求1所述的方法，

其中，所述第一组包含从所述预定参数集中选择的所述第一数量的参数的所有可能组合中的随机选择组合。

8.根据权利要求1所述的方法，

其中，所述电子元件包括半导体器件。

9.根据权利要求8所述的方法，

其中，每个参数均可以选自包括以下项的组：

电源电压；

输入电压；

输入电压频率；

控制电压；

控制电压频率；

器件温度；

输入阻抗；

输出阻抗。

10.根据权利要求1所述的方法，

其中，重复进行在所述一组预定集中选择所述第二数量的测试集的步骤，直到来自所述第二组的所有参考集都包括在所述多个集内，每个集均包含当前为止所选的各个测试集的所有参数的所述第一数量的参数值的所有可能组合。

11.一种用于测试电子元件的方法，所述方法包括：

执行用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法，所述方法包括：

确定第一中间集组，每个中间集均包括从包含预定数量的参数的预定参数集选择的第一数量的参数的组合，其中，所述参数表示所述电子元件的操作参数，并且每个参数均可以具有大量参数值；

确定第二参考集组，其中，所述第二组包含多个集的集合，每个集均包含相应中间集的参数的参数值的所有可能组合；

在一组预定集中选择具有第二数量的测试集的第三组，其中，每个预定集均包含所述预定参数集中的所有参数的参数值的不同组合，使得所述第二组为多个集的集合的子集，每个集均包含相应测试集的所有参数的第一数量的参数值的所有可能组合，其中，所述集的数量等于所述第三组内的测试集的所述第二数量；以及

执行测试程序，其中，在所述测试程序期间使用根据所选测试集的参数值的组合。