[发明专利]一种产生Gold序列的方法及芯片有效
申请号: | 201210332262.9 | 申请日: | 2012-09-10 |
公开(公告)号: | CN102891726A | 公开(公告)日: | 2013-01-23 |
发明(设计)人: | 洪慧勇 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H04J13/10 | 分类号: | H04J13/10 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 产生 gold 序列 方法 芯片 | ||
1.一种产生Gold序列的方法,其特征在于,包括:
分别初始化第一移位寄存器和第二移位寄存器,并确定所述第一移位寄存器和所述第二移位寄存器的抽头位置;
在所述第一移位寄存器最靠近低位的抽头位置处抽取N比特的第一比特序列,在所述第二移位寄存器中最靠近低位的抽头位置处抽取N比特的第二比特序列,其中,N表示矢量化的并行度;
将第一比特序列和第二比特序列进行并行异或操作,得到N比特的Gold序列。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述第一移位寄存器和所述第二移位寄存器的抽头位置,具体包括:
根据预设生成多项式,分别确定所述第一移位寄存器和所述第二移位寄存器的抽头位置;
其中所述预设生成多项式为根据标量Gold序列生成多项式转化成的矢量生成多项式。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述将第一比特序列和第二比特序列进行并行异或操作,得到N比特的Gold序列之前,所述方法还包括:
根据确定的所述抽头位置,在所述第一移位寄存器的其他抽头位置处抽取N比特的第三比特序列,在所述第二移位寄存器的其他抽头位置处抽取N比特的第四比特序列,其中,其他抽头位置指除最靠近低位的抽头位置之外的抽头位置;
分别保存抽取的所述第一比特序列、所述第二比特序列、所述第三比特序列和所述第四比特序列;
根据所述第一比特序列、所述第二比特序列、所述第三比特序列和所述第四比特序列对所述第一移位寄存器和所述第二移位寄存器进行更新;
在所述将第一比特序列和第二比特序列进行并行异或操作,得到N比特的Gold序列之后,所述方法还包括:
判断累积移位数是否大于或者等于初始相位;
当累积移位数小于初始相位时,重新对所述更新后的所述第一移位寄存器和所述更新后的第二移位寄存器进行比特序列抽取,并执行后续异或操作及Gold序列生成操作;
当累积移位数大于或者等于初始相位时,输出得到的所述Gold序列。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一比特序列、所述第二比特序列、所述第三比特序列和所述第四比特序列对所述第一移位寄存器和所述第二移位寄存器进行更新,包括:
根据所述第一比特序列和所述第三比特序列对所述第一移位寄存器进行更新,获得更新后的第一移位寄存器;
以及根据所述第二比特序列和所述第四比特序列对所述第二移位寄存器进行更新,获得更新后的第二移位寄存器。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一比特序列和所述第三比特序列对所述第一移位寄存器进行更新,具体包括:
将所述第一比特序列和所述第三比特序列进行并行异或操作,得到N比特的第一更新序列,并保存所述第一更新序列;
将所述第一移位寄存器由高位向低位进行N比特移位,并将所述第一更新序列填充所述第一移位寄存器中高位的N比特。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述第二比特序列和所述第四比特序列对所述第二移位寄存器进行更新,具体包括:
将所述第二比特序列和所述第四比特序列进行并行异或操作,得到N比特的第二更新序列,并保存所述第二更新序列;
将所述第二移位寄存器由高位向低位进行N比特移位,并将所述第二更新序列填充所述第二移位寄存器中高位的N比特。
7.根据权利要求3-6中任一项所述的方法,其特征在于,所述当累积移位数大于或者等于初始相位时,输出得到的所述Gold序列之后还包括:
判断所述Gold序列是否大于或者等于期望扰码序列长度;
当所述Gold序列大于或者等于期望扰码序列长度时,则退出操作流程;
当所述Gold序列小于期望扰码序列长度时,重新对更新后的所述第一移位寄存器和所述第二移位寄存器进行比特序列抽取,并执行后续异或操作及Gold序列生成操作。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,
初始值产生过程与Gold序列产生过程采用相同的并行度;或者
初始值产生过程与Gold序列产生过程采用不同的并行度;
其中,所述Gold序列产生过程包括所述输出得到的所述Gold序列的操作过程,所述初始值产生过程包括判断累积移位数是否大于或者等于初始相位之前的操作过程。
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