[发明专利]RFID评估系统、目标位置指示装置和目标位置指示程序有效

专利信息
申请号: 201210308810.4 申请日: 2012-08-27
公开(公告)号: CN103279772A 公开(公告)日: 2013-09-04
发明(设计)人: 今村纯;川濑勉 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: G06K17/00 分类号: G06K17/00;G01R29/08
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 曾贤伟;杨继平
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: rfid 评估 系统 目标 位置 指示 装置 程序
【权利要求书】:

1.一种RFID评估系统,用于评估RFID系统,所述RFID评估系统包括:

标签位置和姿态改变单元,用于接受来自操作者的手动操作以改变RFID标签的位置,并自动改变所述RFID标签的姿态;

天线单元,用于将用于测试的无线电信号发送到所述RFID标签,并接收从所述RFID标签发送的无线电信号;以及

控制单元,用于针对所述RFID标签的位置和姿态的每个组合,控制所述天线单元来测量所述RFID标签的响应无线电波强度,其中所述控制单元包括测量所述RFID标签的位置的位置测量单元;以及

信息提供单元,用于提供将所述RFID标签移动到所述目标位置的信息。

2.如权利要求1所述的RFID评估系统,其中所述控制单元包括:

第一报告单元,用于向所述标签位置和姿态改变单元报告所述RFID标签被移动到所述目标位置;

响应无线电波强度测量单元,用于当从所述标签位置和姿态改变单元报告所述RFID标签相对于所述天线单元的相对姿态变为预定姿态时,所述响应无线电波强度测量单元控制所述天线单元来测量所述RFID标签的响应无线电波强度,其中所述标签位置和姿态改变单元包括姿态控制单元,所述姿态控制单元提供连续控制,使得当从所述控制单元报告所述RFID标签被移动到所述目标位置时,所述RFID标签相对于所述天线单元的相对姿态变为预定姿态;以及

第二报告单元,用于在所述RFID标签相对于所述天线单元的相对姿态变为预定姿态后,所述第二报告单元向所述控制单元报告所述RFID标签相对于所述天线单元的相对姿态变为预定姿态。

3.如权利要求2所述的RFID评估系统,其中所述位置测量单元对被固定到所述标签位置和姿态改变单元的标记进行拍摄以计算所述标记的三维位置,并根据所述标记和RFID标签之间的位置关系计算所述RFID标签的三维位置。

4.如权利要求2所述的RFID评估系统,其中所述信息提供单元将用于将所述RFID标签移动到所述目标位置的信息投影到被固定到所述标签位置和姿态改变单元的屏幕上。

5.如权利要求4所述的RFID评估系统,其中所述标签位置和姿态改变单元包括:

升降架,其被固定,使得能够手动地改变位置、方向角和仰角;

所述标记,其被固定到所述升降架上;

所述屏幕,其被固定到所述升降架上;以及

所述RFID标签,其被固定到所述升降架上,使得能够自动控制姿态。

6.一种目标位置指示装置,在用于评估RFID系统的RFID评估系统中包括所述目标位置指示装置,所述目标位置指示装置包括:

标签位置和姿态改变单元,用于接受来自操作者的手动操作以改变RFID标签的位置,并自动改变所述RFID标签的姿态;

天线单元,用于将用于测试的无线电信号发送到所述RFID标签,并接收从所述RFID标签发送的无线电信号;

控制单元,用于针对所述RFID标签的位置和姿态的每个组合,控制所述天线单元来测量所述RFID标签的响应无线电波强度,所述目标位置指示装置还包括:

位置测量单元,用于测量所述RFID标签的位置;以及

信息提供单元,用于提供将所述RFID标签移动到所述目标位置的信息。

7.一种目标位置指示程序,用于使得计算机充当如权利要求6所述的目标位置指示装置。

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