[发明专利]物体尺寸量测与比对系统及方法

权利要求书

1.一种物体尺寸量测与比对系统，应用于一电子装置中，该电子装置包括一定位元件，其特征在于，所述电子装置还包括一红外测距装置，该系统包括：

取点模块，用于当该电子装置被放置在一目标物体上不在同一平面上的至少四个点中任意一点的位置时，该红外测距装置测得所述目标物体与电子装置之间的距离，并于该距离为零或者小于一预定值时，启动所述定位元件对该电子装置所在点的坐标进行侦测；

模型建立模块，用于根据所述至少四个点的坐标值建立一个以该至少四个点作为顶点的长方体模型；

范围确定模块，执行以下步骤用于确定所述目标范围的高度H和宽度W：

使用电子装置的拍照装置同时拍下一已知高度H0和宽度W0的参照物和所述目标范围的图片；

提示用户确定该参照物在该图片上的高度H1和宽度W1，以及该目标范围在该图片上的高度H2和宽度W2；及

根据参数H0、W0、H1、W1、H2、W2计算得出该目标范围的高度H和宽度W，其中，及

结果输出模块，用于根据所述长方体模型的长、宽、高以及所述目标范围的实际高度H和宽度W，判断所述目标物体能否通过该目标范围，并将判断结果显示在电子装置的显示装置上。

2.如权利要求1所述的物体尺寸量测与比对系统，其特征在于，所述目标物体为长方体或立方体形状，所述至少四个点为该目标物体的顶点。

3.如权利要求2所述的物体尺寸量测与比对系统，其特征在于，所述至少四个点由一能完全容置该目标物体的最小长方体空间的至少四个非共面顶点替代。

4.如权利要求1所述的物体尺寸量测与比对系统，其特征在于，所述取点模块提示用户依次将电子装置放在所述至少四个点的位置上，然后通过所述定位元件分别取得该至少四个点的坐标值。

5.如权利要求1所述的物体尺寸量测与比对系统，其特征在于，所述结果输出模块执行以下步骤判断所述目标物体能否通过该目标范围：

确定所述长方体模型的长、宽、高三边中的较小两边，并由该较小两边定义该长方体模型的最小面；

将该最小面的尺寸与所述目标范围进行比对，判断该最小面能否通过所述目标范围以确定所述目标物体能否通过该目标范围。

6.一种物体尺寸量测与比对方法，应用于一电子装置中，该电子装置包括一定位元件，其特征在于，所述电子装置还包括一红外测距装置，该方法包括：

取点步骤，当该电子装置被放置在一目标物体上不在同一平面上的至少四个点中任意一点的位置时，该红外测距装置测得所述目标物体与电子装置之间的距离，并于该距离为零或者小于一预定值时，启动所述定位元件对该电子装置所在点的坐标进行侦测；

模型建立步骤，根据所述至少四个点的坐标值建立一个以该至少四个点作为顶点的长方体模型；

范围确定步骤，使用电子装置的拍照装置同时拍下一已知高度H0和宽度W0的参照物和所述目标范围的图片；

提示用户确定该参照物在该图片上的高度H1和宽度W1，以及该目标范围在该图片上的高度H2和宽度W2；及

根据参数H0、W0、H1、W1、H2、W2计算得出该目标范围的高度H和宽度W，其中，及

结果输出步骤，根据所述长方体模型的长、宽、高以及所述目标范围的实际高度H和宽度W，判断所述目标物体能否通过该目标范围，并将判断结果显示在电子装置的显示装置上。

7.如权利要求6所述的物体尺寸量测与比对方法，其特征在于，所述目标物体为长方体或立方体形状，所述至少四个点为该目标物体的顶点。

8.如权利要求7所述的物体尺寸量测与比对方法，其特征在于，所述至少四个点由一能完全容置该目标物体的最小长方体空间的至少四个非共面顶点替代。

9.如权利要求6所述的物体尺寸量测与比对方法，其特征在于，所述取点步骤提示用户依次将电子装置放在所述至少四个点的位置上，然后通过所述定位元件分别取得该至少四个点的坐标值。

10.如权利要求6所述的物体尺寸量测与比对方法，其特征在于，所述结果输出步骤包括：

确定所述长方体模型的长、宽、高三边中的较小两边，并由该较小两边定义该长方体模型的最小面；

将该最小面的尺寸与所述目标范围进行比对，判断该最小面能否通过所述目标范围以确定所述目标物体能否通过该目标范围。