[发明专利]GaN基发光二极管、其制备方法及应用有效
申请号: | 201210305178.8 | 申请日: | 2012-08-24 |
公开(公告)号: | CN103633206A | 公开(公告)日: | 2014-03-12 |
发明(设计)人: | 梁秉文 | 申请(专利权)人: | 苏州纳方科技发展有限公司 |
主分类号: | H01L33/04 | 分类号: | H01L33/04;H01L33/42;H01L33/00 |
代理公司: | 北京华夏博通专利事务所(普通合伙) 11264 | 代理人: | 王锋 |
地址: | 215123 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | gan 发光二极管 制备 方法 应用 | ||
技术领域
本发明特别涉及一种改良设计的GaN基发光二极管、其制备方法及应用。
背景技术
GaN基LED因具有寿命长、耐冲击、抗震、高效节能等优异特性而在图像显示、信号指示、照明以及基础研究等方面有着极为广泛的应用前景,并已经成为半导体领域的研究热点之一。参阅图1所示系当前习见的标准GaN基LED,其制备工艺一般包括如下步骤:
(1)高温除杂:在高温条件下,向反应室内通入氢气,燃烧除去衬底表面的杂质,并对衬底表面进行处理;
(2)长缓冲层:降温,并在衬底上生长一层厚约300埃厚的GaN、AlN或InGaN缓冲层;
(3)退火:升温,将低温长的非晶GaN、AlN或InGaN缓冲层通过高温形成多晶GaN 缓冲层;
(4)长GaN单晶:在高温条件下,在GaN、AlN或InGaN缓冲层上生长一层厚约0.5μm~2μm的GaN单晶;
(5)长N型GaN(厚约1.5μm~3μm):在高温条件下,长GaN 的同时掺Si(浓度5-108/cm3);
(6)长多量子阱MQW:降温,先长一层GaN (135埃左右)后,再长一层InGaN(厚约25埃),接着长一层GaN (135埃左右),这样连续长5到11个InGaN和 GaN势阱势垒pair (160埃左右),整个MQW厚约0.16μm,调整掺In的浓度可调整波长;
(7)长P型GaN(厚约0.2μm):首先,升温,长GaN的同时掺Mg (浓度约为5x1019/cm3),长2000埃厚;其后,降温,长GaN的同时掺Mg (浓度约为1x1020/cm3),长150埃厚;而后,降温,再在N2下加热,打破Mg-H键,激活Mg的导电性;最后降温。
从结构和制备工艺两方面进行分析,前述GaN基LED一般具有如下缺陷:其一、半导体材料层的厚度一般在4-7微米,因此需要很长的工时进行生长,效率低下;其二,半导体材料层,尤其是P型GaN材料层中均需要高浓度的掺杂,其不仅操作不易,还会吸收光,从而降低LED的发光效率。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种具有改良设计的GaN基发光二极管,其能有效克服前述现有技术的不足。
本发明的另一目的在于提供一种制备前述GaN基发光二极管的方法。
为实现上述发明目的,本发明采用了如下技术方案:
一种GaN基发光二极管,包括在选定缓冲层上顺次叠设的第一N型GaN层、P型GaN层、多量子阱有源层以及第二N型GaN层,
其中,所述第一N型GaN层生长在第一衬底上或所述第二N型GaN层连接在第二衬底上,
以及,所述第一N型GaN层或第二N型GaN层上还连接有透明导电层。
作为优选的方案之一,所述第一N型GaN层为N型掺杂GaN层,且其掺杂浓度于临近P型GaN层处最大。
作为优选的方案之一,所述P型GaN层为P型掺杂GaN层,且其掺杂浓度于临近第一N型GaN层处最大。
作为优选的方案之一,所述P型GaN层与多量子阱有源层之间还设有P型Al GaN层。
作为优选的方案之一,所述N型GaN层与多量子阱有源层之间还设有N型Al GaN层。
作为可选的实施方案,所述第二N型GaN层粘接或键合在所述第二衬底上。
具体而言,所述第一衬底可选自蓝宝石衬底、Si衬底、SiC衬底和GaN衬底中的任意一种,但不限于此。
所述第二衬底可选自Si衬底、金属衬底、氮化铝衬底中的任意一种,但不限于此。
所述透明导电层优选采用ITO或ZnO。
如上所述GaN基发光二极管的制备方法包括如下步骤:
(1)提供一第一衬底;
(2)在所述第一衬底上生长形成选定的缓冲层,其后依次生长形成第一N型GaN层、P型GaN层、多量子阱有源层以及第二N型GaN层;
(3)在第二N型GaN层上连接透明导电层,
或者,在第二N型GaN层上连接第二衬底,并将第一衬底剥离,而在一N型GaN层上连接透明导电层。
作为优选的方案之一,步骤(2)具体为:
a)在第一衬底上生长形成选定的缓冲层,其后生长N型掺杂GaN层作为第一N型GaN层,且其掺杂浓度于临近P型GaN层处最大;
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