[发明专利]电容屏综合测试电路、测试方法及其输出数据切换算法

说明书

技术领域

本发明涉及电容屏测试技术，具体地说是涉及一种电容屏研发、生产、返修过程中的综合测试电路、测试方法及其输出数据切换算法。

背景技术

目前电容屏的研发以及生产过程中的实测方法通常如下：

(1)     在研发过程中：一般使用主控芯片商提供的测试盒对电容屏的性能进行分析以及调试参数，此时需要CTP（电容屏）的控制芯片烧录能够向外输出每条Sensor（敏感元件）的Raw-data（原始电容感应值）数据的韧体。

(2)     在生产过程中：对CTP的FPCA(柔性印刷线路板模组)来料功能检测、ITO玻璃/薄膜来料功能检测、 贴合后的半成品检测，这三个环节需要对CTP的主控制芯片烧录Raw-data 韧体； 而最终对CTP模组的成品检测，需要对CTP的控制芯片烧录Coordinate 韧体。并且需要使用昂贵的专业测试仪器。这样产线需要对所有CTP的控制芯片进行两次烧录韧体的动作，既浪费人力物力，又容易造成更多的不良品。

(3)     交货给客户以后：CTP如发生不良，则仍需所有Sensor的Raw-data数据来分析不良原因，则必须再重新烧录能够向外输出每条Sensor的Raw-data数据的韧体。

这样每个环节要使用的韧体都不同，所需的测试设备也不同，增加了成本，降低了效率，不利于成本控制。

现有的测试方法，每个环节要使用的韧体都不同，所需的测试设备也不同，增加了时间成本，人力成本，降低了生产效率。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，设计一种电路板装置，并在韧体中设计一种软件算法，且两者配合使用，实现在CTP的研发调试阶段、生产测试阶段、返修阶段，只使用一套电路板装置，只使用一种韧体，即可进行多种不同种类的数据分析测试工作，从而节约设备成本，节约人力和时间成本，提高研发和生产效率。

针对上述目的，本发明采用的技术方案是，电容屏综合测试电路，包括：主控制芯片、USB转串口芯片、拨码开关、转接板，其特征在于，主控制芯片的输出端分别连接USB转串行通讯芯片和拨码开关的输入端，主控制芯片通过转接板与电容式触摸屏连接，USB转串行通讯芯片的输出端连接电脑串行通讯端口的输入端，电脑串行通讯端口与测试软件连接；

1)主控制芯片，包含I2C通讯模块，UART通讯模块；可以作为I2C 主设备，通过I2C通讯接口，对CTP的控制芯片进行数据的读写；同时，也可以与USB转串口芯片进行UART通讯；

2)USB转串口芯片，主控制芯片有UART通讯模块，它与USB转串口芯片的RX端口进行通信，把从CTP读到的数据发送给USB转串口芯片；USB转串口芯片通过USB线把数据传送到电脑上，并能模拟一个串行通讯端口，电脑可从这个串行通讯端口接收到来自测试电路板的数据；

3)拨码开关，拨码开关的每个拨码都与主控制芯片的一个独立的GPIO口连接；主控制芯片会实时的扫描拨码开关的开/关状态，并根据拨码开关的状态来通知CTP进行哪种数据格式的输出；

4)转接板，主要用于连接不同型号和不同款式的CTP接口。

所述的电容屏综合测试方法，其特征在于，步骤如下：

1) 供电启动：电路板通过USB供电，上电后，主控制芯片启动I2C通讯模块以及UART通讯模块，确认与CTP可以正常通讯后，进入主循环；

2) 读取拨码状态并写入数值：在主循环中，首先通过与拨码开关相连的GPIO口读取拨码开关每个拨码的开/关状态，往CTP的I2C寄存器中的约定地址写入数值；

3) CTP切换数据输出：CTP通过收到主控制芯片写入的拨码开关的开/关状态值来切换输出数据种类；CTP切换成功后，会改变与主控制芯片相连的中断GPIO口的电平状态，主控制芯片收到INT引脚的电平变化，并读取CTP的I2C寄存器中的所有有效数据；

4) 数据发送：主控制芯片读到数据之后，通过UART通讯模块，发送给I2C转串口芯片，I2C转串口芯片把数据发送到电脑上的某个虚拟串行通讯端口；

5）制作配套调试软件接收数据：由电脑制作配套调试软件接收数据并进行进一步的数据统计和分析。

所述的测试方法的输出数据切换算法，其特征在于，切换算法如下：

1) CTP作为I2C从设备用于存放供I2C主设备进行读取的数据；

2) CTP上电后启动I2C通讯模块，并设置寄存器初始值；地址[0]的值默认设置为0x00，按照与CTP用户约定的输出数据格式进行输出；然后开始进入主循环；