[发明专利]电容屏综合测试电路、测试方法及其输出数据切换算法

权利要求书

1.电容屏综合测试电路，包括：主控制芯片、USB转串口芯片、拨码开关、转接板，其特征在于，主控制芯片的输出端分别连接USB转串行通讯芯片和拨码开关的输入端，主控制芯片通过转接板与电容式触摸屏连接，USB转串行通讯芯片的输出端连接电脑串行通讯端口的输入端，电脑串行通讯端口与测试软件连接；

1)主控制芯片，包含I2C通讯模块，UART通讯模块；可以作为I2C 主设备，通过I2C通讯接口，对CTP的控制芯片进行数据的读写；同时，也可以与USB转串口芯片进行UART通讯；

2)USB转串口芯片，主控制芯片有UART通讯模块，它与USB转串口芯片的RX端口进行通信，把从CTP读到的数据发送给USB转串口芯片；USB转串口芯片通过USB线把数据传送到电脑上，并能模拟一个串行通讯端口，电脑可从这个串行通讯端口接收到来自测试电路板的数据；

3)拨码开关，拨码开关的每个拨码都与主控制芯片的一个独立的GPIO口连接；主控制芯片会实时的扫描拨码开关的开/关状态，并根据拨码开关的状态来通知CTP进行哪种数据格式的输出；

4)转接板，主要用于连接不同型号和不同款式的CTP接口。

2.如权利要求1所述的电容屏综合测试方法，其特征在于，步骤如下：

1) 供电启动：电路板通过USB供电，上电后，主控制芯片启动I2C通讯模块以及UART通讯模块，确认与CTP可以正常通讯后，进入主循环；

2) 读取拨码状态并写入数值：在主循环中，首先通过与拨码开关相连的GPIO口读取拨码开关每个拨码的开/关状态，往CTP的I2C寄存器中的约定地址写入数值；

3) CTP切换数据输出：CTP通过收到主控制芯片写入的拨码开关的开/关状态值来切换输出数据种类；CTP切换成功后，会改变与主控制芯片相连的中断GPIO口的电平状态，主控制芯片收到INT引脚的电平变化，并读取CTP的I2C寄存器中的所有有效数据；

4) 数据发送：主控制芯片读到数据之后，通过UART通讯模块，发送给I2C转串口芯片，I2C转串口芯片把数据发送到电脑上的某个虚拟串行通讯端口；

5）制作配套调试软件接收数据：由电脑制作配套调试软件接收数据并进行进一步的数据统计和分析。

3.如权利要求2所述的测试方法的输出数据切换算法，其特征在于，切换算法如下：

1) CTP作为I2C从设备用于存放供I2C主设备进行读取的数据；

2) CTP上电后启动I2C通讯模块，并设置寄存器初始值；地址[0]的值默认设置为0x00，按照与CTP用户约定的输出数据格式进行输出；然后开始进入主循环；

3) 主循环中对所有ITO 敏感元件进行扫描，判断地址[0]的值：

地址[0]＝0x00：CTP出货的成品中默认的输出格式；CTP需要计算手指触摸点的坐标以及动作手势，依照与CTP用户约定的数据格式进行输出；用于手指划线测试，线性度测试，以及CTP最终的全功能测试；

地址[0]＝0x01：CTP需要输出所有ITO 敏感元件在稳定且不被触摸时的基准值，此时CTP无需计算手指触摸点坐标以及动作手势；用于FPCA的来料功能测试；

地址[0]＝0x02：CTP需要输出所有ITO 敏感元件在被触摸时感应值的变化值，此时CTP无需计算手指触摸点坐标以及动作手势；用于测试ITO玻璃/薄膜的来料功能测试；

地址[0]＝0x03：CTP需要输出所有ITO 敏感元件的原始电容感应值实时数据，此时CTP无需计算手指触摸点坐标以及动作手势；供研发人员在调试阶段分析CTP的性能、进行参数调整，以及出货成品快速分析；且用于FPCA来料性能及ITO玻璃/薄膜性能测试。

4.根据权利要求3所述的输出数据切换算法，其特征在于，所述设置寄存器初始值，其数据输出格式是最终提供给CTP 用户的成品中约定的数据输出格式，而在调试和测试过程中可以根据需要把寄存器设置为其他数值，通知CTP灵活的输出多种其他的数据格式，并且可以进行拓展。