[发明专利]测量系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种测量系统，且特别涉及一种可通过一探针接触一接点，以准确地测量该接点的一信号的特性，并通过多个电容，针对所欲测量的一特定频率范围进行滤波，于一频谱分析仪显示该信号的能量相对于频谱的信息的测量系统。

背景技术

随着科技的进步，现今电子产品都以小型化及高性能为目标，使得电路板上元件的分布密度不断提升，电路的体积也大大地缩小。然而，当电路体积变得更小，更多元件挤在狭小的空间中，因而增加了彼此之间干扰的机会，其中电磁干扰（Electromagnetic interference,EMI）是最令业界感到困扰的问题之一。由于电磁干扰所牵涉的因素繁多，以及处理时所需的专业指示较广，长久以來，电磁干扰一直困扰着电子系统的设计工程师。然而，当科技产业的高度竞争，新产品的生命周期越來越短之时，如何快速解决电磁干扰问题，成为所有电子工程师所面临的一大挑战。

用来测量电磁干扰的一现有测量系统10可参考图1。测量系统10包含有一频谱分析仪104及一探棒106，用以测量一电路板102的电磁干扰。电路板102包含有电子元件E₁～E₃及接点N₁～N₆，电子元件E₁～E₃通过接点N₁～N₆以及线路相互连接。探棒106的架构如图2所示，探棒106包含有一圆形探针202、一连接线204及一输出接口206。若欲测量接点N₁的电磁干扰，可将圆形探针202放置于接点N₁旁，以测量接点N₁所散发出的电磁干扰信号，接着，将此信号通过连接线204以及输出接口206传输至频谱分析仪104，并于频谱分析仪104上显示该信号的能量相对于频谱的信息。

然而，电路板102上每一接点N₁～N₆皆有可能散发出电磁干扰信号。以现有电磁干扰的测量方法测量接点N₁的电磁干扰信号时，圆形探针202也可能接收到其它接点N₂～N₆所散发出的电磁信号，距离圆形探针202愈近的接点N₂～N₆，愈可能造成测量的误差，进而影响测量结果。再者，当已知电路板102上具有超量电磁干扰，欲找出该超量电磁干扰源自于电路板102上哪一接点或哪一元件时，现有以圆形探针202测量电磁干扰的方法也无法取得精确的结果。

此外，针对电子装置的电磁相容（Electromagnetic compatibility,EMC）以及电磁干扰，世界主要先进国家皆制定了规范标准，目前主流的规范标准是针对频率范围30MHz～1GHz之间的电磁干扰，其信号能量必须低于一特定值。然而，一般频谱分析仪104为满足各种不同需求，提供了较大的频率测量范围（例如：3MHz～3GHz），无法针对特定需求，于一特定频率范围提供更精准的测量结果。有鉴于此，现有技术实有改进的必要。

发明内容

因此，本发明的主要目的即在于提供一种可通过一探针接触一接点，以准确地测量该接点的一信号的特性，并通过多个电容，针对所欲测量的一特定频率范围进行滤波，于一频谱分析仪显示该信号的能量相对于频谱的信息的测量系统。

本发明揭露一种测量系统，用来测量一接点的一信号特性，该测量系统包含有一接触式测量单元，该接触式测量单元包含有一探针，用来接触该接点，以撷取该接点的信号；一输出接口；多个电容，电性连接于该探针与该输出接口之间，每一电容的一电容值相对应于一频率范围；以及一保护电路，其一端电性连接于该探针与该输出接口之间，另一端电性连接于一地端；以及一频谱分析仪，电性连接于该输出接口，用来显示该输出接口所输出的信号的能量相对于频谱的信息，以测量该接点的该信号特性。

本发明另揭露一种测量方法，用来测量一接点的一信号特性，该测量方法包含有以一探针接触该接点，以撷取该接点的信号；以及通过多个电容及一保护电路，将该接点的信号传送至一频谱分析仪，以通过该频谱分析仪显示信号的能量相对于频谱的信息，以测量该接点的该信号特性；其中，该多个电容的每一电容的一电容值相对应于一频率范围。

本发明的测量系统可准确测量特定接点的信号特性，并可针对特定频率范围进行滤波，以测量特定频率范围下的信号特性。

附图说明

图1为现有一测量系统的示意图。

图2为现有一探棒的示意图。