[发明专利]测量系统

权利要求书

1.一种测量系统，用来测量一接点的一信号特性，该测量系统包含有：

一接触式测量单元，包含有：

一探针，用来接触该接点，以撷取该接点的信号；

一输出接口；

多个电容，电性连接于该探针与该输出接口之间，每一电容的一电容值相对应于一频率范围；以及

一保护电路，其一端电性连接于该探针与该输出接口之间，另一端电性连接于一地端；以及

一频谱分析仪，电性连接于该输出接口，用来显示该输出接口所输出的信号的能量相对于频谱的信息，以测量该接点的该信号特性。

2.如权利要求1所述的测量系统，其中该多个电容的多个电容值相对应于一总合频率范围，该总合频率范围是该每一电容的该电容值相对应的该频率范围的组合。

3.如权利要求2所述的测量系统，其中该总合频率范围相对应于所欲测量的该信号特性，并于该频谱分析仪显示该输出接口所输出的信号的能量相对于频谱的信息时，显示该总合频率范围。

4.如权利要求3所述的测量系统，其中该信号特性为电磁干扰。

5.如权利要求1所述的测量系统，其中该保护电路包含一电阻。

6.如权利要求5所述的测量系统，其中该电阻的阻值为50欧姆。

7.如权利要求1所述的测量系统，其中该保护电路包含一齐纳二极管。

8.如权利要求1所述的测量系统，其中该输出接口符合一尼尔－康赛曼连接器的规格。

9.如权利要求1所述的测量系统，其还包含一连接线，该探针通过该连接线电性连接该输出接口。

10.如权利要求9所述的测量系统，其中该连接线的接头符合一尼尔－康赛曼连接器的规格。

11.如权利要求1所述的测量系统，其中该接触式测量单元还包含一壳体，用来包覆该多个电容及该保护电路，以及固定该探针及该输出接口。

12.一种测量方法，用来测量一接点的一信号特性，该测量方法包含有：

以一探针接触该接点，以撷取该接点的信号；以及

通过多个电容及一保护电路，将该接点的信号传送至一频谱分析仪，以通过该频谱分析仪显示信号的能量相对于频谱的信息，以测量该接点的该信号特性；

其中，该多个电容的每一电容的一电容值相对应于一频率范围。

13.如权利要求12所述的测量方法，其中该多个电容的多个电容值相对应于一总合频率范围，该总合频率范围为该每一电容的该电容值相对应的该频率范围的组合。

14.如权利要求13所述的测量方法，其中该总合频率范围相对应于所欲测量的该信号特性，并于该频谱分析仪显示信号的能量相对于频谱的信息时，显示该总合频率范围。

15.如权利要求14所述的测量方法，其中该信号特性为电磁干扰。

16.如权利要求12所述的测量方法，其中该保护电路包含一电阻。

17.如权利要求16所述的测量方法，其中该电阻的阻值为50欧姆。

18.如权利要求12所述的测量方法，其中该保护电路包含一齐纳二极管。

19.如权利要求12所述的测量方法，其中该输出接口符合一尼尔－康赛曼连接器的规格。