[发明专利]电极活性物质、其制备方法、及包括其的电极和锂电池有效
申请号: | 201210266060.9 | 申请日: | 2012-07-30 |
公开(公告)号: | CN103094537A | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 崔原彰;金圭成;宋旼相;崔荣敏;金昤希;金素妍 | 申请(专利权)人: | 三星SDI株式会社;三星康宁精密素材株式会社 |
主分类号: | H01M4/48 | 分类号: | H01M4/48;H01M4/131;H01M10/052 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 金拟粲 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 电极 活性 物质 制备 方法 包括 锂电池 | ||
相关申请的交叉引用
本申请要求2011年11月7日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请No.10-2011-0115365的权益,将其公开内容完全引入本文作为参考。
技术领域
本公开内容涉及电极活性物质、其制备方法、以及包括其的电极和锂电池。
背景技术
对于较小且较高性能的设备,除了降低锂电池的尺寸和重量外,还重要的是提高锂电池的能量密度。即,高电压和高容量的锂电池已变得重要。
为了实现满足这些要求的锂电池,正在对具有高电压和高容量的正极活性物质进行研究。
当使用具有高电压和高容量的典型正极活性物质时,在高温和/或高于约4.4V的电压下发生副反应,例如过渡金属的洗脱和气体的产生。由于这些副反应,电池性能在高温和高电压环境中恶化。
因此,需要防止在高温和高电压环境中电池恶化的方法。
发明内容
提供能够防止在高温和高电压条件下电池性能恶化的电极活性物质。
提供包括所述电极活性物质的电极。
提供采用所述电极的锂电池。
提供制造所述电极活性物质的方法。
另外的方面将在以下描述中部分地阐明,并且部分地将从所述描述明晰,或者可通过所呈现的实施方式的实践获知。
根据本发明的一个方面,电极活性物质可包括:能够嵌入和脱嵌锂的核;和形成于所述核的表面的至少一部分上的表面处理层,其中所述表面处理层可包括具有尖晶石结构的无锂氧化物,并且在所述无锂氧化物的通过使用Cu-Kα辐射测量的X射线衍射(XRD)光谱中对应于杂质相的峰的强度处于X射线衍射光谱的噪声水平或更低的水平。
根据本发明的另一方面,电极可包括所述电极活性物质。
根据本发明的另一方面,锂电池可包括所述电极。
根据本发明的另一方面,制造电极活性物质的方法可包括:将能够嵌入和脱嵌锂的核和具有尖晶石结构的无锂氧化物混合,和通过经历干法工艺(dry process)在所述核上形成包括所述无锂氧化物的表面处理层。
附图说明
由结合附图考虑的实施方式的以下描述,这些和/或其它方面将变得明晰和更容易理解,其中:
图1说明对根据(a)制备对比例1和(b)制备实施例1制造的SnZn2O4的X射线衍射(XRD)实验的结果;
图2说明在制备实施例1中制备的SnZn2O4的扫描电子显微镜(SEM)图像;
图3说明在实施例1中使用的LiNi0.5Mn1.5O4粉末的SEM图像;
图4说明在实施例1中制造的正极活性物质的SEM图像;和
图5说明对根据实施例97~98和对比例5制造的锂电池的高倍率特性实验的结果;和
图6为说明根据实施方式的锂电池的示意图。
具体实施方式
现在将详细介绍实施方式,其实例示于附图中,其中相同的附图标记始终是指相同的元件。在这点上,本实施方式可具有不同形式并且不应解释为限于本文中所阐述的描述。因此,以下仅通过参照附图描述实施方式,以解释本发明的各个方面。
下文中,将详细描述根据示例性实施方式的电极活性物质、其制造方法、及包括其的电极和电池。
根据实施方式的电极活性物质包括:能够嵌入和脱嵌锂的核;和形成于所述核的表面的至少一部分上的表面处理层,其中所述表面处理层包括具有尖晶石结构的无锂氧化物,且在所述无锂氧化物的使用Cu-Kα辐射测量的X射线衍射(XRD)光谱中对应于杂质相的峰的强度处于XRD光谱的噪声水平或更低的水平。
所述XRD光谱中杂质相的衍射峰的强度处于噪声水平或更低的水平的事实表明实际上未检测到对于杂质相的峰,因为衍射峰的强度低于形成基线的噪声水平。噪声水平是指与由目标材料获得的散射不相关的由于在周围环境中例如在空气、水等中的散射发生的X射线散射。
即,由于所述能够嵌入和脱嵌锂的核的表面的至少一部分用实际上不具有杂质相的尖晶石结构的无锂氧化物处理,在所述核表面的至少一部分或全部上可形成表面处理层。如本领域普通技术人员将理解的,术语“表面处理层”也可指包覆层(coating layer)。所述杂质相指的是除所述尖晶石晶体之外的任何相。
由于所述具有尖晶石结构的无锂氧化物实际上不具有杂质相,因此可抑制充电/放电过程期间由于杂质相引起的副反应。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星SDI株式会社;三星康宁精密素材株式会社,未经三星SDI株式会社;三星康宁精密素材株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210266060.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。