[发明专利]一种基于拼合螺旋扫描方式的光学投影断层成像方法有效
| 申请号: | 201210262127.1 | 申请日: | 2012-07-26 |
| 公开(公告)号: | CN102727188A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
| 发明(设计)人: | 田捷;董迪;秦承虎;杨鑫;郭进;马喜波 | 申请(专利权)人: | 中国科学院自动化研究所 |
| 主分类号: | A61B5/00 | 分类号: | A61B5/00 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
| 地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 拼合 螺旋 扫描 方式 光学 投影 断层 成像 方法 | ||
1.一种基于拼合螺旋扫描方式的光学投影断层成像方法,其特征在于,包括:
将同一高度、同一角度、不同探测器位置的投影图拼合成一个水平方向能覆盖所有样本的投影图,进而将多个局部螺旋投影数据拼合为一个整体螺旋投影数据;
根据拼合后每幅投影图的轴向位置和扫描角度,计算出整个三维重建体的轴向视野;
将三维重建体划分为多个轴向待重建断层,将每个轴向待重建断层对应的投影行进行数据重排,获得轴向待重建断层对应的正弦图;以及
利用圆轨道滤波反投影方法将正弦图重建为断层图像,然后将各断层图像依次叠加在一起便得到三维重建体。
2.根据权利要求1所述的基于拼合螺旋扫描方式的光学投影断层成像方法,其特征在于,所述将同一高度、同一角度、不同探测器位置的投影图拼合成一个水平方向能覆盖所有样本的投影图,是利用双线性插值法实现的。
3.根据权利要求1所述的基于拼合螺旋扫描方式的光学投影断层成像方法,其特征在于,所述将多个局部螺旋投影数据拼合为一个整体螺旋投影数据的过程中,像素的灰度值按下式进行计算:
其中,gray(c)为第c个像素的灰度值;表示变量h=1,2,3,…,G时对(*)内的函数取平均运算;为拼合行第c个像素对应第h个局部行中像素灰度值,其中h=1,2,3,…,G,c=1,2,3,…,W,W为拼合投影图的列数,W=width/ds,width为拼合后投影图的宽度,
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院自动化研究所,未经中国科学院自动化研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210262127.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:冷凝装置结构改良及其散热模组
- 下一篇:一种用于铜带表面的钝化剂





