[发明专利]一种测量过程优化的方法、终端和基站在审

专利信息
申请号: 201210235700.X 申请日: 2012-07-09
公开(公告)号: CN103546905A 公开(公告)日: 2014-01-29
发明(设计)人: 赵美;李博 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04W24/02 分类号: H04W24/02
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 李健;龙洪
地址: 518057 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 过程 优化 方法 终端 基站
【说明书】:

技术领域

发明涉及LTE(Long Term Evolution,长期演进)系统,尤其涉及一种测量过程优化的方法、终端和基站。

背景技术

UE(User Equipment,终端)在LTE网络中移动时,如果服务小区(Serving Cell)的信号质量越来越差(干扰很严重),或者服务小区的信号强度越来越差(如向小区边缘移动),为了满足用户业务的需求和服务质量,UE需要切换到其它有效可用的LTE小区。如果无法切换到其它有效可用的LTE小区,UE就需要从LTE切换到可用有效的异系统小区。

对于LTE系统内的异频切换,eNB(E-UTRAN NodeB,演进型基站)需要通过异频相关测量来进行切换判决。根据协议异频切换相关测量流程如下:eNB先下发A2测量用于测量服务小区信号(即异频A2),UE根据eNB下发的A2测量门限测量服务小区信号并上报测量报告,eNB收到A2测量报告后再下发A3/A5测量通知UE测量相应的异频邻区的信号并上报测量的异频邻区信息,eNB根据上报的异频邻区信息通知UE进行相应的切换。

对于带测量的异系统切换,eNB需要通过异系统相关测量来进行切换判决。根据协议在UE支持异系统测量的情况下,异系统切换相关测量流程如下:eNB先下发A2测量用于测量服务小区信号(即异系统A2),UE根据eNB下发的A2测量门限测量服务小区信号并上报测量报告,eNB收到A2测量报告后再下发B1/B2测量通知UE测量相应的异系统邻区的信号并上报测量的异系统邻区信息,eNB根据上报的异系统邻区信息通知UE进行相应的切换。

现有技术亟待改进。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种测量过程优化方法、终端和基站,优化现有测量过程,提高测量效率,降低测量时延。

为了解决上述技术问题,本发明提供了一种测量过程优化方法,包括:基站下发测量配置至终端,所述测量配置中包括A2测量,以及,一类型标志,指示所述A2测量的类型。

进一步的,上述方法还可具有以下特点,所述方法还包括:

所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量。

进一步的,上述方法还可具有以下特点,所述A2测量的类型包括如下之一或其组合:

所述A2测量为异频A2测量;

所述A2测量为异系统A2测量;

异频A2测量和异系统A2测量同时下发;

异频A2测量和异系统A2测量先后下发;

所述A2测量为重定向A2测量。

进一步的,上述方法还可具有以下特点,所述方法还包括:

当所述A2测量的类型为异频A2测量时,所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量;

当所述A2测量的类型为异系统A2测量时,所述测量配置中还包括B1/B2异系统邻区测量;

当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量同时下发时,所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量和B1/B2异系统邻区测量;

当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发时,所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量,或者,B1/B2异系统邻区测量。

进一步的,上述方法还可具有以下特点,所述方法还包括:

当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发时,所述基站下发所述A2测量后,接收到所述终端上报的A2测量报告后:

如果所述A2测量报告是异频A2测量报告,则所述基站同时下发异系统A2测量以及B1/B2异系统邻区测量,并指示当前下发的A2测量的类型为异系统A2测量。

本发明实施例还提供一种测量过程优化方法,包括:

终端接收基站下发的测量配置,所述测量配置中包括A2测量,以及,一类型标志,指示所述A2测量的类型;

所述终端根据所述A2测量的类型执行测量。

进一步的,上述方法还可具有以下特点,所述测量配置中还A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量;

所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括:

所述终端根据所述A2测量的类型,执行A2测量,当测量的信号质量满足指定门限时,还执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量。

进一步的,上述方法还可具有以下特点,所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括:

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