[发明专利]一种测量过程优化的方法、终端和基站

权利要求书

1.一种测量过程优化方法，其特征在于，

基站下发测量配置至终端，所述测量配置中包括A2测量，以及，一类型标志，指示所述A2测量的类型。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量。

3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述A2测量的类型包括如下之一或其组合：

所述A2测量为异频A2测量；

所述A2测量为异系统A2测量；

异频A2测量和异系统A2测量同时下发；

异频A2测量和异系统A2测量先后下发；

所述A2测量为重定向A2测量。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述A2测量的类型为异频A2测量时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量；

当所述A2测量的类型为异系统A2测量时，所述测量配置中还包括B1/B2异系统邻区测量；

当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量同时下发时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量和B1/B2异系统邻区测量；

当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量，或者，B1/B2异系统邻区测量。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发时，所述基站下发所述A2测量后，接收到所述终端上报的A2测量报告后：

如果所述A2测量报告是异频A2测量报告，则所述基站同时下发异系统A2测量以及B1/B2异系统邻区测量，并指示当前下发的A2测量的类型为异系统A2测量。

6.一种测量过程优化方法，其特征在于，

终端接收基站下发的测量配置，所述测量配置中包括A2测量，以及，一类型标志，指示所述A2测量的类型；

所述终端根据所述A2测量的类型执行测量。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述测量配置中还A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量；

所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：

所述终端根据所述A2测量的类型，执行A2测量，当测量的信号质量满足指定门限时，还执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：

所述A2测量的类型为异频A2测量时，所述终端进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，所述终端直接执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量。

9.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：

所述A2测量的类型为异系统A2测量时，所述终端进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，所述终端直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量。

10.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：

当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量同时下发时，所述终端进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，所述终端直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量，以及，与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量。

11.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：

当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发，且所述测量配置中包括A2测量和A3/A5异频邻区测量，则所述终端执行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，所述终端直接执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量，并上报A2测量报告给所述基站；

当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发，且所述测量配置中包括A2测量和B1/B2异系统邻区测量，则所述终端执行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，所述终端直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量。