[发明专利]反射型传感器以及图像形成装置

说明书

技术领域

本发明涉及反射型传感器以及图像形成装置。

背景技术

日本未审查的专利申请公开No.2004-309292、No.2002-162803、No.2002-55572和No.2011-107524公开了如下技术：通过抑制来自待检测对象的漫反射光的影响使用反射型传感器来改善接收规则反射光的接收灵敏度。

发明内容

本发明旨在提供如下技术：使用接收规则反射光的反射型传感器来检测图像的对准不良量，并且抑制由漫反射光和图像形成装置的坚稳性水平降低而导致的检测精度的降低。

根据本发明的第一方面，提供一种反射型传感器包括：光发射单元，其向图像形成装置中形成有多种颜色的第一检测图像的区域发射光，所述第一检测图像用于检测所述第一检测图像之间的对准不良量；第一光限制部件或构造，其对从所述光发射单元发射的光进行限制；光接收器，其设置在因光穿过所述第一光限制部件或构造施加在所述区域并被所述区域反射而产生的规则反射光的光路上，并且接收被所述区域反射的光并输出表示接收到的光量的信号；以及第二光限制部件或构造，其设置在所述规则反射光的光路上并对将被所述光接收器接收的光进行限制。用所述第一光限制部件或构造的直径除以所述第二光限制部件或构造的直径所得到的值在大约0.5至1.9的范围内，并且所述第一光限制部件或构造的直径和所述第二光限制部件或构造的直径均为1.5mm或更小。

根据本发明的第二方面，在根据第一方面的反射型传感器中，下述两位置之间在所述区域的法线方向上的距离为大约1.0mm或更大：使所述光接收器接收的光量最大时所述第二光限制部件或构造、所述光发射单元及所述光接收器中的一者所处的位置，以及使因光被所述区域反射而产生的漫反射光的量最大时所述第二光限制部件或构造、所述光发射单元及所述光接收器中的相关联一者所处的位置。

根据本发明的第三方面，提供一种图像形成装置：根据第一方面或第二方面的反射型传感器；图像形成单元，其形成所述第一检测图像和图像数据所表示的图像；对准不良或偏差检测器，其基于从所述光接收器输出的所述信号来检测所述第一检测图像之间的对准不良量；以及校正单元，其基于由所述对准不良或偏差检测器检测到的对准不良量，对将由所述图像形成单元根据图像数据形成的图像的位置进行校正。

根据本发明的第四方面，在根据第三方面的图像形成装置中，所述图像形成单元可以形成第二检测图像，所述第二检测图像用于检测所述第二检测图像偏离预定浓度的浓度偏差量。所述反射型传感器可以向所述图像形成单元中形成有所述第二检测图像的区域施加光，可以接收被所述区域反射的光，并且可以输出表示被所述区域反射的光量的信号。所述对准不良或偏差检测器基于表示被形成有所述第二检测图像的区域反射的光量的所述信号来检测所述浓度偏差量。所述校正单元可以基于由所述对准不良或偏差检测器检测出的浓度偏差量对将由所述图像形成单元根据图像数据形成的图像的浓度进行校正。

根据本发明的第五方面，在根据第三方面或第四方面的图像形成装置中，所述反射型传感器可以设置在所述区域所反射的光量最大的位置，并且所述第二光限制部件或构造可以设置在下述的位置：所述第二光限制部件或构造在所述区域的法线方向上距离所述区域大约8.0mm。

根据本发明的第一方面或第三方面，提供了利用接收规则反射光的反射型传感器来检测图像的对准不良量的技术。与第一光限制部件或构造的直径和第二光限制部件或构造的直径不是第一方面和第三方面中的值的情况相比，可以抑制由漫反射光以及图像形成装置的坚稳性降低而导致的检测精度的降低。

根据本发明的第二方面，与下述两位置之间在所述区域的法线方向上的距离为大约1.0mm或更小的情况相比可以抑制由漫反射光导致的检测精度的降低：使所述光接收器接收的光量最大时所述第二光限制部件或构造、所述光发射单元及所述光接收器中的一者所处的位置，以及使因光被所述区域反射而产生的漫反射光的量最大时所述第二光限制部件或构造、所述光发射单元及所述光接收器中的相关联一者所处的位置。

根据本发明的第四方面，不需要分开地设置用于检测对准不良量的传感器和用于检测浓度偏差量的传感器。

根据本发明的第五方面，与反射型传感器不设置在因光被形成有第一检测图像的区域反射而接收到的光量最大的位置的情况相比，可以抑制由漫反射光以及图像形成装置的坚稳性降低导致的检测精度的降低。

附图说明

将基于以下附图详细描述本发明的示例性实施例，其中：