[发明专利]反射型传感器以及图像形成装置有效
申请号: | 201210235073.X | 申请日: | 2012-07-06 |
公开(公告)号: | CN103048907A | 公开(公告)日: | 2013-04-17 |
发明(设计)人: | 尾形健太;宇高勉;后藤理 | 申请(专利权)人: | 富士施乐株式会社 |
主分类号: | G03G15/01 | 分类号: | G03G15/01;H04N5/335;G01B11/00;G01N21/17 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 顾红霞;何胜勇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 反射 传感器 以及 图像 形成 装置 | ||
1.一种反射型传感器,包括:
光发射单元,其向图像形成装置中形成有多种颜色的第一检测图像的区域发射光,所述第一检测图像用于检测所述第一检测图像之间的对准不良量;
第一光限制部件或构造,其对从所述光发射单元发射的光进行限制;
光接收器,其设置在因光穿过所述第一光限制部件或构造施加在所述区域并被所述区域反射而产生的规则反射光的光路上,并且接收被所述区域反射的光并输出表示接收到的光量的信号;以及
第二光限制部件或构造,其设置在所述规则反射光的光路上并对将被所述光接收器接收的光进行限制,
其中,用所述第一光限制部件或构造的直径除以所述第二光限制部件或构造的直径所得到的值在大约0.5至1.9的范围内,并且所述第一光限制部件或构造的直径和所述第二光限制部件或构造的直径均为1.5mm或更小。
2.根据权利要求1所述的反射型传感器,其中,
下述两位置之间在所述区域的法线方向上的距离为大约1.0mm或更大:使所述光接收器接收的光量最大时所述第二光限制部件或构造、所述光发射单元及所述光接收器中的一者所处的位置,以及使因光被所述区域反射而产生的漫反射光的量最大时所述第二光限制部件或构造、所述光发射单元及所述光接收器中的相关联一者所处的位置。
3.一种图像形成装置,包括:
反射型传感器,其包括:
光发射单元,其向图像形成装置中形成有多种颜色的第一检测图像的区域发射光,所述第一检测图像用于检测所述第一检测图像之间的对准不良量;
第一光限制部件或构造,其对从所述光发射单元发射的光进行限制;
光接收器,其设置在因光穿过所述第一光限制部件或构造施加在所述区域并被所述区域反射而产生的规则反射光的光路上,并且接收被所述区域反射的光并输出表示接收到的光量的信号;以及
第二光限制部件或构造,其设置在所述规则反射光的光路上并对将被所述光接收器接收的光进行限制,
其中,用所述第一光限制部件或构造的直径除以所述第二光限制部件或构造的直径所得到的值在大约0.5至1.9的范围内,并且所述第一光限制部件或构造的直径和所述第二光限制部件或构造的直径均为1.5mm或更小;
图像形成单元,其形成所述第一检测图像和图像数据所表示的图像;
对准不良或偏差检测器,其基于从所述光接收器输出的所述信号来检测所述第一检测图像之间的对准不良量;以及
校正单元,其基于由所述对准不良或偏差检测器检测到的对准不良量,对将由所述图像形成单元根据图像数据形成的图像的位置进行校正。
4.一种图像形成装置,包括:
反射型传感器,其包括:
光发射单元,其向图像形成装置中形成有多种颜色的第一检测图像的区域发射光,所述第一检测图像用于检测所述第一检测图像之间的对准不良量;
第一光限制部件或构造,其对从所述光发射单元发射的光进行限制;
光接收器,其设置在因光穿过所述第一光限制部件或构造施加在所述区域并被所述区域反射而产生的规则反射光的光路上,并且接收被所述区域反射的光并输出表示接收到的光量的信号;以及
第二光限制部件或构造,其设置在所述规则反射光的光路上并对将被所述光接收器接收的光进行限制,
其中,用所述第一光限制部件或构造的直径除以所述第二光限制部件或构造的直径所得到的值在大约0.5至1.9的范围内,并且所述第一光限制部件或构造的直径和所述第二光限制部件或构造的直径均为1.5mm或更小;
下述两位置之间在所述区域的法线方向上的距离为大致1.0mm或更大:使所述光接收器接收的光量最大时所述第二光限制部件或构造、所述光发射单元及所述光接收器中的一者所处的位置,以及使因光被所述区域反射而产生的漫反射光的量最大时所述第二光限制部件或构造、所述光发射单元及所述光接收器中的相关联一者所处的位置;
图像形成单元,其形成所述第一检测图像和图像数据所表示的图像;
对准不良或偏差检测器,其基于从所述光接收器输出的所述信号来检测所述第一检测图像之间的对准不良量;以及
校正单元,其基于由所述对准不良或偏差检测器检测到的对准不良量,对将由所述图像形成单元根据图像数据形成的图像的位置进行校正。
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