[发明专利]带有绝缘埋层衬底的制备方法有效
申请号: | 201210233324.0 | 申请日: | 2012-07-06 |
公开(公告)号: | CN102768981A | 公开(公告)日: | 2012-11-07 |
发明(设计)人: | 魏星;王文宇;曹共柏 | 申请(专利权)人: | 上海新傲科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/762 | 分类号: | H01L21/762 |
代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 孙佳胤;翟羽 |
地址: | 201821 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 带有 绝缘 衬底 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及半导体材料领域,尤其涉及一种带有绝缘埋层衬底的制备方法。
背景技术
与体硅器件相比,绝缘体上硅(SOI)器件具有高速、低驱动电压、耐高温、低功耗以及抗辐照等优点,备受人们的关注,在材料和器件的制备方面都得到了快速的发展。SOI材料按其顶层硅薄层的厚度,可分为薄膜SOI(顶层硅通常小于1μm)和厚膜SOI(顶层硅通常大于1μm)两大类。薄膜SOI市场95%的应用集中在8英寸和12英寸,其中绝大多数用户为尖端微电子技术的引导者,如IBM、AMD、Motorola、Intel、UMC、TSMC、OKI等。目前供应商为日本信越(SEH)、法国Soitec、日本SUMCO,其中前两家供应了约90%以上的产品。薄膜SOI市场主要的驱动力来自于高速、低功耗产品,特别是微处理器(CPU)应用。这些产品的技术含量高,附加值大,是整个集成电路的龙头。
很多对SOI的报道均集中在以上这些激动人心的尖端应用上,而实际上SOI早期的应用集中在航空航天和军事领域,现在拓展到功率和灵巧器件以及MEMS应用。特别是在汽车电子、显示、无线通讯等方面发展迅速。由于电源的控制与转换、汽车电子以及消费性功率器件方面对恶劣环境、高温、大电流、高功耗方面的要求,使得在可靠性方面的严格要求不得不采用SOI器件。在这些领域多采用厚膜SOI材料,集中在6英寸和8英寸,目前的用户包括美国Maxim、ADI、TI (USA),日本NEC、Toshiba、Panasonic、Denso、TI (Japan)、FUJI、Omron等,欧洲Philips、X-Fab等。这个领域的特点在于SOI器件技术相对比较成熟,技术含量相对较低,器件的利润也相对降低,对SOI材料的价格比较敏感。在这些SOI材料用户里面,很大的应用主要来源于各种应用中的驱动电路:如Maxim的应用于主要为手机接受段的放大器电路;Panasonic、TI、FUJI、Toshiba、NEC等主要应用在显示驱动电路中的扫描驱动电路;DENSO的应用主要在汽车电子、无线射频电路等;Toshiba的应用甚至在空调的电源控制电路中;Omron主要在传感器方面;ADI也主要在高温电路、传感器等;而Phillips的应用则主要是功率器件中的LDMOS,用于消费类电子中如汽车音响、声频、音频放大器等;韩国的Magnchip(Hynix)则为Kopin生产用于数码相机用的显示驱动电路和为LG生产的PDP显示驱动电路等。
目前,SOI材料的制备技术主要有注氧隔离技术(SIMOX)、键合及背面腐蚀技术(BESOI)及其所衍生出来的智能剥离技术(Smart-cut)、外延层转移技术(ELTRAN)等。其中,由于键合及背面腐蚀技术具有工艺简单、成本低等优点,因此受到人们的重视,虽然埋氧层厚度连续可调,但是通过研磨或者腐蚀的办法减薄顶层硅,顶层硅的厚度均匀性很难得到精确控制。如P.B.Mumola等在顶层硅厚度为1±0.3μm键合减薄SOI材料的基础上,采用计算机控制局部等离子减薄的特殊办法,将顶层硅减薄到0.1μm,平整度仅能控制在±0.01μm,这也就限制了键合减薄SOI材料在对顶层硅厚度均匀性要求高等方面的应用。而采用SIMOX技术制备的SOI材料,虽然具有优异的顶层硅厚度均匀性,但由于受到注入剂量和能量的限制,埋氧层最大厚度很难超过400nm,并且SIMOX工艺是利用高温退火,促进氧在硅片内部聚集成核而形成连续埋氧层,但是埋氧层中存在的针孔使其绝缘性能不如热氧化形成的SiO2,击穿电压仅6MV/cm左右,这些缺点限制了SIMOX材料在厚埋层(大于400nm)方面的应用。Smart-cut技术在键合技术的基础上发展而来,并且其顶层硅的厚度由氢离子的注入能量所决定,其厚度连续可调,因此该技术可以同时满足埋氧层厚度和顶层硅均匀性的要求,但是该技术由于采用氢离子注入剥离器件层,因此生产成本较高。外延层转移技术需要在多孔硅上外延单晶硅层,缺陷控制困难,该技术尚未成熟,并没有应用的报道。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是,提供一种带有绝缘埋层衬底的制备方法,能够更好地控制器件层的厚度,从而提高整个衬底的厚度均匀性和良率。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造