[发明专利]检测电路的方法

权利要求书

1.一种检测电路的方法，其步骤包含有：

提供一分组给一产线；

于该产线中定位该分组；

经定位的分组进行检出，并产生一检出结果；以及

输出该检出结果。

2.如权利要求1所述的检测电路的方法，其中该分组为多个，该多个分组通过一平行委派的方法，以提供给多个产线中的其一产线，该平行委派的方法的步骤包含有：

判断是否具有一待测影像，若有，于一待测影像串流中撷取一待测影像，该待测影像为一电路影像；

提供一参考影像，该参考影像是由一参考影像串流中所撷取；

产生一分组，该分组具有该待测影像、该参考影像与一检测参数；以及

计算各产线的工作负荷量，若该产线的工作负荷量低于一设定值，提供该分组给该产线。

3.如权利要求2所述的检测电路的方法，其中该设定值为一常数，或者为该产线的工作负荷量低于其余各产线的工作负荷量。

4.如权利要求2所述的检测电路的方法，其中若多个分组欲进入该产线，该多个分组是以一链结方式传递至该产线，该产线检出该分组，再输出该检测结果。

5.如权利要求2所述的检测电路的方法，其中该分组于定位前需要一定位前处理，该定位前处理的步骤包含有：

输入该待测影像，由所提供的分组中取得该待测影像；

水平投影该待测影像；

计算一水平标准差，由该水平投影的待测影像中计算出该水平标准差，该水平标准差为一第一值；

垂直投影该待测影像；

统计一异色区域，由该垂直投影的待测影像中统计出一白色区域与一黑色区域；

计算一垂直标准差，由该垂直投影的待测影像中计算出该垂直标准差，该垂直标准差为一第二值；

该白色区域是否大于一第一阈值，若是，该待测影像为一全白影像，进行一参考定位；若否，进行一该黑色区域是否大于一第二阈值；

该黑色区域是否大于一第二阈值，若是，该待测影像为一全黑影像，进行该参考定位；若否，进行该第一值是否小于一第一参数；

该第一值是否小于一第一参数，若是，该待测影像为一水平线条，进行该参考定位；若否，进行该第二值是否小于一第二参数；

该第二值是否小于一第二参数，若是，该待测影像为一垂直线条，进行该参考定位；若否，进行该第一值是否等于该第二值；以及

该第一值与第二值的绝对差值是否小于第三参数，若是，该待测影像为一斜线条，进行该参考定位；若否，进行该定位。

6.如权利要求5所述的检测电路的方法，其中该定位的方式为一几何定位或一图样比对的其中一者，若该定位成功，进行该检出，若该定位失败，进行该参考定位。

7.如权利要求5所述的检测电路的方法，其中该第一阈值、该第二阈值、该第一参数、该第二参数与该第三参数为一常数。

8.如权利要求7所述的检测电路的方法，其中该第一阈值与该第二阈值介于90%至100%之间，该第一参数与该第二参数介于5至25之间，该第三参数介于0至20之间。

9.如权利要求5所述的检测电路的方法，其中该参考定位的步骤具有：

提供一参考位置表，其行列数大于该待测影像的行列数，该参考位置表中的对应各待测影像的位置具有一数据储存结构，以储存该待测影像的定位状况与定位结果；以及

提供一列表总合，其具有一数据储存结构，以储存该待测影像的某一列nState的总合、定位进度与定位平均值。

10.如权利要求9所述的检测电路的方法，其中该定位状况具有一定位结果座标，其能够供一定位状态填入。

11.如权利要求9所述的检测电路的方法，其中该总合为该列定位成功张数，该定位成功的待测影像的定位结果座标能以一直线拟合法，而得出一趋势直线，该趋势直线供一定位失败的待测影像内插，以得该位置的定位结果座标。

12.如权利要求11所述的检测电路的方法，其中该趋势直线具有一X方向与一Y方向的座标。

13.如权利要求2所述的检测电路的方法，其中该检出的方式为一重迭法，该重迭法是将该待测影像的中心为一定位点，该参考影像对准该定位点。

14.如权利要求13所述的检测电路的方法，其中该参考影像四边较该待测影像具有一范围的像素。