[发明专利]一种砷化镓基几何巨磁电阻器件及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201210220038.0 申请日: 2012-06-28
公开(公告)号: CN102709468A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 章晓中;王集敏;万蔡华;朴红光 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: H01L43/08 分类号: H01L43/08;H01L43/12
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 薄观玖
地址: 100084 北京市*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 砷化镓基 几何 磁电 器件 及其 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于磁场检测和磁场传感器材料以及器件技术领域,特别涉及一种砷化镓基几何巨磁电阻器件及其制备方法。

背景技术

自1988年A.Fert和Peter Grünberg (Phys. Rev. Lett. 61(1988) 2472)发现Fe/Cr多层膜中的巨磁阻效应(GMR)以来,该效应的应用给人们的生活带来了巨大革新。GMR和与之类似的隧道磁电阻效应(TMR)广泛地应用于计算机存储技术,高灵敏度磁性传感器和空间技术等领域。然而,它们主要原材料为磁性金属材料和稀土材料等。随着稀土资源的不断紧张,寻找新型材料成为了一种趋势。随着自旋电子学的发展,人们发现在非磁性材料体系(如Si,GaAs)中也存在磁阻效应。GaAs材料是信息、光电子和光学工业中的主流材料,但有关其磁学器件性能的研究很少。

2007年,Wang等人(Appl. Phys. Lett, 90 (2007) 252106)发现了GaAs/AlGaAs二维电子气在低温20 K和6 T高磁场条件下,显示了1300%的磁电阻现象,然而低温和高磁场条件限制了该器件的应用。Michel等人(Appl. Phys. Lett, 92 (2008) 223119)则通过控制GaAs中Mn的掺杂位置与浓度来调控GaAs的磁电阻性能,也实现了低温和高场下显著的磁电阻效应。另外,Yokoyama等人(J. Appl. Phys, 99, (2006) 08D502)在室温下,于Mn掺杂的GaAs体系中,实现了600%的磁电阻,然而工作电压却为110V。以上这些器件要么不能在室温附近工作,要么工作电压太大,因此离工业应用尚有距离。

除了砷化镓基巨磁阻电阻材料,其他体系也可实现磁阻特性,如Solin等人(Science,289 (2000) 1530)发明的InSb/Au结构磁阻。这种结构虽然性能优异,但是结构较复杂,不利于器件的小型化,而且制备工艺复杂,原料成本较高。

发明内容

本发明针对现有技术不足,提供了一种砷化镓基几何巨磁电阻器件及其制备方法。

如图1所示,一种砷化镓基几何巨磁阻器件,其特征在于:在矩形单晶GaAs(100)或矩形单晶GaAs(111)基片表面的4个角上分别设置1个金属电极;4个金属电极呈矩形或梯形,其中,在长度方向上的两个金属电极之间的间距用LC表示,在宽度方向上的两个金属电极之间的间距用W表示,两间距的比值大于0.5,即LC/W>0.5。

所述矩形单晶GaAs(100)或矩形单晶GaAs(111)基片的任一边长度为0.5 mm~20 mm。

所述矩形单晶GaAs(100)或矩形单晶GaAs(111)基片的电阻率大于1000 Ω·cm。 

所述矩形单晶GaAs(100)或矩形单晶GaAs(111)基片的迁移率大于1000 cm2/Vs。

所述金属电极为金属In、Al或Ti。

一种砷化镓基几何巨磁阻器件的制备方法,其特征在于,该方法具体步骤如下:

(1)将矩形单晶GaAs(100)或矩形单晶GaAs(111)基片用酒精或丙酮漂洗干净,并将其裁剪成矩形;

(2)在矩形单晶GaAs(100)或矩形单晶GaAs(111)基片的表面4个角上分别沉积或压制1个金属电极。

所述矩形单晶GaAs(100)或矩形单晶GaAs(111)基片的任一边长度为0.5 mm~20 mm。

所述矩形单晶GaAs(100)或矩形单晶GaAs(111)基片的电阻率大于1000 Ω·cm。 

所述矩形单晶GaAs(100)或矩形单晶GaAs(111)基片的迁移率大于1000 cm2/Vs。

所述金属电极为金属In、Al或Ti。

本发明的有益效果为: 

1. 所得到的砷化镓基几何巨磁阻器件在温度300 K, 磁场1.2 T,测试电流为22 nA条件下,具有显著的磁电阻效应。

2. 所得到的砷化镓基几何巨磁阻器件,其磁电阻大于常规GaAs基磁电阻器件的磁电阻(根据理论推算,磁阻等于(μB)2,约为30%)。

3. 所得到的砷化镓基几何巨磁阻器件工作在20 V和20 nA左右条件下,功率在0.4 μW级别,小于1 μW级别。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学,未经清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210220038.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top