[发明专利]磁粉探伤试块及其制作方法

说明书

技术领域

本发明涉及探伤领域，特别是一种磁粉探伤试块及其制作方法。

 

背景技术

磁粉探伤是一种借助于磁粉显示出铁磁性材料漏磁场的分布，从而发现材料表面或近表面缺陷的一种无损探伤。磁粉探伤试块是磁粉探伤时需要的重要工具之一，现有的磁粉探伤试块其只具有单一裂纹，无法同时完成对多种裂纹的试测。

 

发明内容

本发明的目的是提供一种磁粉探伤试块及其制作方法。

为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：一种磁粉探伤试块，其包括圆柱形的试块本体、开设在试块本体上且与试块本体相同轴设置的中心孔，所述的试块本体的其中一个端面上有粗线条裂纹以及细微裂纹。

所述的本体高为9.65～9.75mm，本体直径为49.95～50.05mm，中心孔直径为10.45～10.55mm。

试块本体每表面的递进量为0.045～0.055mm，位移为1.95～2.05mm。

本发明还提供了一种制作上述磁粉探伤试块的方法，其包括以下步骤：一采用钢90MnCrV8加工成试块本体；（二）将试块本体表面磨平至9.8mm±0.05mm；（三）在850～870℃下硬化2h；（四）油淬，使试块本体表面硬度达到63～70HRC；（五）用尺寸为46J7的砂粒，以35m/s的速度打磨；（六）在145～150℃温度下黑化1.5h；（七）采用1000A（峰值）的直流电的中心导体经行磁化。

本发明的有益效果在于：本磁粉探伤试块的端面具有两种裂纹能，因此能同时试测两种裂纹操作简单，提高了工作效率。

 

附图说明

   附图1为本发明的结构示意图；

其中：1、试块本体；2、中心孔；3、粗线条裂纹；4、细微裂纹。

 

具体实施方式

下面结合附图所示的实施例对本发明作以下详细描述：

如图1所示，本磁粉探伤试块，其包括圆柱形的试块本体1、开设在试块本体1上且与试块本体1相同轴设置的中心孔2，所述的试块本体1的其中一个端面上有粗线条裂纹3以及细微裂纹4。

所述的试块本体1的高为9.7mm，试块本体1的直径为50mm，中心孔2的直径为10.5mm，试块本体1每表面的递进量为0.05mm，位移为2mm。

本发明还提供了一种制作上述磁粉探伤试块的方法，其包括以下步骤：一采用钢90MnCrV8加工成试块本体1；（二）将试块本体（1）表面磨平至9.8mm±0.05mm；（三）在850～870℃下硬化2h；（四）油淬，使试块本体（1）表面硬度达到63～70HRC；（五）用尺寸为46J7的砂粒，以35m/s的速度打磨；（六）在145～150℃温度下黑化1.5h；（七）采用1000A（峰值）的直流电的中心导体经行磁化。

上述实施例只为说明本发明的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本发明的内容并据以实施，并不能以此限制本发明的保护范围。凡根据本发明精神所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本发明的保护范围之内。