[发明专利]磁粉探伤试块及其制作方法无效

专利信息
申请号: 201210216608.9 申请日: 2012-06-28
公开(公告)号: CN102735749A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 沈明奎 申请(专利权)人: 吴江市宏达探伤器材有限公司
主分类号: G01N27/84 分类号: G01N27/84
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 孙仿卫
地址: 215237 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 探伤 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种磁粉探伤试块,其包括圆柱形的试块本体(1)、开设在试块本体(1)上且与试块本体(1)相同轴设置的中心孔(2),其特征在于:所述的试块本体(1)的其中一个端面上有粗线条裂纹(3)以及细微裂纹(4)。

2.根据权利要求1所述的磁粉探伤试块,其特征在于:所述的试块本体(1)高为9.65~9.75mm,试块本体(1)的直径为49.95~50.05mm,中心孔(2)的直径为10.45~10.55mm。

3.根据权利要求1所述的磁粉探伤试块,其特征在于:试块本体(1)每表面的递进量为0.045~0.055mm,位移为1.95~2.05mm。

4.一种制作1~3中任一种磁粉探伤试块的方法,其特征在于,其包括以下步骤:(一)采用钢(90MnCrV8)加工成试块本体(1);(二)将试块本体(1)表面磨平至9.8mm±0.05mm;(三)在850~870℃下硬化2h;(四)油淬,使试块本体(1)表面硬度达到63~70HRC;(五)用尺寸为46J7的砂粒,以35m/s的速度打磨;(六)在145~150℃温度下黑化1.5h;(七)采用1000A(峰值)的直流电的中心导体经行磁化。

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