[发明专利]一种天线覆盖性能评估方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及无线通信领域，特别涉及一种天线覆盖性能评估方法及系统。

背景技术

GSM网络中运行有大量的天线，如果天线的覆盖性能指标不及格，将会对GSM网络的信号质量造成影响。

现有技术中，主要是使用天线空间暗室实验室对天线的覆盖性能进行评估，确定覆盖性能指标不及格的问题天线。使用天线空间暗室实验室对天线的覆盖性能进行评估的方法，是通过停止天线的运行，并拆卸下天线，然后将拆卸的天线一一送到天线空间暗室实验室进行测试评估。

上述方法虽然可以检查出天线的各种覆盖性能，但是存在以下缺点：

可操作性不强：GSM网络运行中的天线数量巨大，将天线一一送天线空间暗室实验室进行评估，缺乏可操作性，因此只能抽样测试。

成本高：在拆卸天线后，需要使用备用天线，拆卸与安装、运输等成本极高。

操作周期长：从停止天线运行，拆卸天线，将天线送至天线空间暗室实验室进行检测，然后到装回天线，整体操作流程所需周期长，时效性差，若天线数量大则难以避免对现网运营造成影响。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种天线覆盖性能评估方法及系统，在不影响现网运行的基础上，能够准确快捷地对天线的性能进行评估。

为解决上述问题，本发明提供一种天线覆盖性能评估方法，包括：

获取与目标评估天线有关的测试采样点的扫频数据；

根据所述扫频数据将所述测试采样点映射到天线评估坐标系中；

获取所述天线评估坐标系中的采样统计单位，其中，所述采样统计单位中包含一个或多个所述测试采样点；

获取所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强和理论信号场强；

根据所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强和理论信号场强，对所述目标评估天线的预定天线覆盖性能参数进行评估。

优选的，所述扫频数据中包含所述测试采样点的经纬度信息，所述根据所述扫频数据将所述测试采样点映射到天线评估坐标系中的步骤包括：

将所述测试采样点的经纬度信息映射成所述天线评估坐标系中的一天线评估坐标，其中，所述天线评估坐标中包含所述测试采样点与所述目标评估天线的球面距离，以及所述测试采样点与所述目标评估天线的连线顺时针偏离所述目标评估天线的方向角的角度。

优选的，所述测试点的天线评估坐标F（L1，γ1）的计算公式如下：

L1=R*{arc cos[cosb*cosy*cos(a-x)+sinb*siny]}

其中，L1为所述测试采样点与所述目标评估天线的球面距离，R为地球半径，a、b分别为所述测试采样点的经度和纬度，x、y分别为所述目标评估天线的经度和纬度，γ1为所述测试采样点与所述目标评估天线的连线顺时针偏离所述目标评估天线的方向角的角度，α为所述目标评估天线的方向角，β为以所述目标评估天线为原点，所述测试采样点与所述目标评估天线的连线与北极方向的顺时针夹角，其中，β的计算公式为：

β=arcsin（{arccos[cos(b-y)]}/arccos[cosb*cosy*cos(a-x)+sinb*siny]）。

优选的，所述扫频数据中包含所述测试采样点的信号场强，所述获取所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强的步骤包括：

获取所述采样统计单位中的所有所述测试采样点的信号场强；

获取所述所有所述测试采样点的信号场强的平均值，作为所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强。

优选的，所述目标评估天线在所述采样统计单位的理论信号场强的计算公式如下：

理论RSSI(L,γ,Rxlev)=BSPWRB+G-Att(γ)-Att(Vert)-Pass(L)-P-P_oth

其中，理论RSSI(L,γ,Rxlev)为所述目标评估天线在所述采样统计单位的理论信号场强，L为所述采样统计单位与所述目标评估天线的球面距离，γ为所述采样统计单位与所述目标评估天线的连线顺时针偏离所述目标评估天线的方向角的角度，BSPWRB为所述目标评估天线的发射功率，G为所述目标评估天线在所述采样统计单位的理论天线增益，Att(γ)为所述目标评估天线在所述采样统计单位的理论水平增益衰减值，Att(Vert)为所述目标评估天线在所述采样统计单位的理论垂直增益衰减值，Pass(L)为所述目标评估天线在所述采样统计单位的理论自由空间损耗，P为所述目标评估天线的固定损耗，P_oth为其他预定损耗。