[发明专利]一种天线覆盖性能评估方法及系统

权利要求书

1.一种天线覆盖性能评估方法，其特征在于，包括：

获取与目标评估天线有关的测试采样点的扫频数据；

根据所述扫频数据将所述测试采样点映射到天线评估坐标系中；

获取所述天线评估坐标系中的采样统计单位，其中，所述采样统计单位中包含一个或多个所述测试采样点；

获取所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强和理论信号场强；

根据所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强和理论信号场强，对所述目标评估天线的预定天线覆盖性能参数进行评估。

2.如权利要求1所述的天线覆盖性能评估方法，其特征在于，所述扫频数据中包含所述测试采样点的经纬度信息，所述根据所述扫频数据将所述测试采样点映射到天线评估坐标系中的步骤包括：

将所述测试采样点的经纬度信息映射成所述天线评估坐标系中的一天线评估坐标，其中，所述天线评估坐标中包含所述测试采样点与所述目标评估天线的球面距离，以及所述测试采样点与所述目标评估天线的连线顺时针偏离所述目标评估天线的方向角的角度。

3.如权利要求2所述的天线覆盖性能评估方法，其特征在于，所述测试点的天线评估坐标F（L1，γ1）的计算公式如下：

L1=R*{arc cos[cosb*cosy*cos(a-x)+sinb*siny]}

其中，L1为所述测试采样点与所述目标评估天线的球面距离，R为地球半径，a、b分别为所述测试采样点的经度和纬度，x、y分别为所述目标评估天线的经度和纬度，γ1为所述测试采样点与所述目标评估天线的连线顺时针偏离所述目标评估天线的方向角的角度，α为所述目标评估天线的方向角，β为以所述目标评估天线为原点，所述测试采样点与所述目标评估天线的连线与北极方向的顺时针夹角，其中，β的计算公式为：

β=arcsin（{arccos[cos(b-y)]}/arccos[cosb*cosy*cos(a-x)+sinb*siny]）。

4.如权利要求1所述的天线覆盖性能评估方法，其特征在于，所述扫频数据中包含所述测试采样点的信号场强，所述获取所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强的步骤包括：

获取所述采样统计单位中的所有所述测试采样点的信号场强；

获取所述所有所述测试采样点的信号场强的平均值，作为所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强。

5.如权利要求1所述的天线覆盖性能评估方法，其特征在于，所述目标评估天线在所述采样统计单位的理论信号场强的计算公式如下：

理论RSSI(L,γ,Rxlev)=BSPWRB+G-Att(γ)-Att(Vert)-Pass(L)-P-P_oth

其中，理论RSSI(L,γ,Rxlev)为所述目标评估天线在所述采样统计单位的理论信号场强，L为所述采样统计单位与所述目标评估天线的球面距离，γ为所述采样统计单位与所述目标评估天线的连线顺时针偏离所述目标评估天线的方向角的角度，BSPWRB为所述目标评估天线的发射功率，G为所述目标评估天线在所述采样统计单位的理论天线增益，Att(γ)为所述目标评估天线在所述采样统计单位的理论水平增益衰减值，Att(Vert)为所述目标评估天线在所述采样统计单位的理论垂直增益衰减值，Pass(L)为所述目标评估天线在所述采样统计单位的理论自由空间损耗，P为所述目标评估天线的固定损耗，P_oth为其他预定损耗。

6.如权利要求1所述的天线覆盖性能评估方法，其特征在于，所述预定天线覆盖性能参数包含天线增益，所述根据所述目标评估天线在所述采样统计单位的实测信号场强和理论信号场强，对所述目标评估天线的预定天线覆盖性能参数进行评估的步骤包括：

从与所述目标评估天线相关的所述采样统计单位中，选取位于所述目标评估天线的主波瓣范围内的第一统计单位；

从所述目标评估天线的主波瓣范围内的第一统计单位中，选取实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位；

根据所述实测信号场强大于预定场强阀值的第一统计单位的实测信号场强，计算所述目标评估天线在所述第一统计单位的实测天线增益；

选取最大的所述实测天线增益作为所述目标评估天线的天线增益性能评估得分。