[发明专利]可控梯度的胶体光子晶体的制备方法无效

专利信息
申请号: 201210210337.6 申请日: 2012-06-25
公开(公告)号: CN102718912A 公开(公告)日: 2012-10-10
发明(设计)人: 张刚;陈俊波;黄贺 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: C08F212/08 分类号: C08F212/08;C08F220/14;C08F220/06;C30B29/58
代理公司: 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 代理人: 张景林;刘喜生
地址: 130012 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 可控 梯度 胶体 光子 晶体 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种可控梯度的胶体光子晶体的制备方法,其步骤如下:

(1)在氮气排空的三口烧瓶中加入100~120mL去离子水,然后向其中加入减压蒸馏后的18.00~22.50mL苯乙烯、1.00~1.25mL甲基丙烯酸甲酯、1.00~1.25mL丙烯酸以及0.30~0.80g碳酸氢铵、0.32~0.42g重结晶后的引发剂,在200~400rpm搅拌速度下,水浴加热升温至65~70℃,在氮气氛围下稳定反应5~7h进行聚合;聚合完成后持续搅拌下挥发除去未聚合的单体,抽滤除去乳液中团聚的胶体微球,再重复离心和水洗过程3~5次,从而得到尺寸均一的聚合物微球;

(2)将聚合物微球稀释成浓度为0.50~3.70wt%的水分散液;在15~20℃下将亲水处理过的基片垂直插入聚合物微球的水分散液中,然后将基片以0.93~1.98μm·s-1的速度从聚合物微球的水分散液中提拉出来,从而在基片表面自组装形成2~30层胶体光子晶体;

(3)将具有2~30层胶体光子晶体的基片进行氧等离子体刻蚀,真空度为0.1~0.2mbar,刻蚀功率为6.8~18.0W,刻蚀时间为3~15min,从而在基片上得到可控梯度的胶体光子晶体。

2.如权利要求1所述的一种可控梯度的胶体光子晶体的制备方法,其特征在于:苯乙烯在减压蒸馏前需要先进行碱洗,即用1~10wt%氢氧化钠或氢氧化钾水溶液洗涤苯乙烯3~5次至无色,再用蒸馏水洗涤至pH=6.5~7.5,无水硫酸除水分。

3.如权利要求1所述的一种可控梯度的胶体光子晶体的制备方法,其特征在于:引发剂为过硫酸铵或过硫酸钾。

4.如权利要求1所述的一种可控梯度的胶体光子晶体的制备方法,其特征在于:基片是玻璃片或硅片,是经过浓硫酸和双氧水的混合溶液进行亲水处理。

5.如权利要求1所述的一种可控梯度的胶体光子晶体的制备方法,其特征在于:制备2层胶体光子晶体刻蚀时间为3~9min。

6.如权利要求1所述的一种可控梯度的胶体光子晶体的制备方法,其特征在于:制备3层胶体光子晶体的刻蚀时间为3~15min。

7.如权利要求1所述的一种可控梯度的胶体光子晶体的制备方法,其特征在于:制备4层及4层以上的胶体光子晶体刻蚀时间为3~15min。

8.如权利要求1所述的一种可控梯度的胶体光子晶体的制备方法,其特征在于:制备30层胶体光子晶体刻蚀时间为3~18min。

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