[发明专利]一种用于测量晶振准确性的方法和系统

说明书

技术领域

本发明涉及晶振测量技术领域，特别涉及一种用于测量晶振准确性的方法和系统。

背景技术

目前手机中必然会使用外部晶振，一般至少有两颗晶振，一颗为高精度高频率的晶振A，用于提供CPU运行所需的时钟频率；另一颗为普通的晶振B，主要用于提供给系统实时时钟、蓝牙等低速设备使用。通常生产线上容易出现供货质量问题的晶振为普通的晶振B。

而生产线生产手机时，一旦发现某批次晶振的质量存在瑕疵，就需要将所有生产完的手机全部拆机，再用仪器测量逐个排查出问题晶振的手机，然后再将晶振没有问题的手机重新装机。然而，在拆机和重新装机的过程都需要人工操作，工作效率非常低，操作不方便，特别是：由于手机的大部分晶振都在屏蔽盖里，使得拆机测量耗时耗力。另外，对于那些原本正常的手机，经过这一返工工序，也可能会引入新的问题。因此，提供一种无需拆机且能快速判断出晶振准确性的方法，尤为重要。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足之处，本发明的目的在于提供一种用于测量晶振准确性的方法和系统，以解决现有技术需要拆机排查问题晶振，工作效率低，操作不方便的问题。

为了达到上述目的，本发明采取了以下技术方案：

一种用于测量晶振准确性的方法，其包括：

使能第一定时器和第二定时器，分别开始给第一晶振和第二晶振的时钟频率计数；

循环读取第二定时器的计数值，直到第二定时器的计数值等于第二晶振的时钟频率；

读取第一定时器的计数值，并根据第一定时器的计数值，获取第二晶振的实际时钟频率，来判断第二晶振的准确度。

所述的用于测量晶振准确性的方法中，在所述使能第一定时器和第二定时器，分别给第一晶振和第二晶振的时钟频率开始计数的步骤之前，所述的方法还包括：将第一定时器和第二定时器的计数值清零。

所述的用于测量晶振准确性的方法中，根据第二晶振的准确度，控制显示装置进行相应显示。

所述的用于测量晶振准确性的方法中，所述第一晶振为标准时钟频率晶振，第二晶振为待查晶振。

所述的用于测量晶振准确性的方法中，所述第二晶振的实际时钟频率为第二晶振的标准时钟频率与第二晶振的频率偏差值之差。

所述的用于测量晶振准确性的方法中，所述第二晶振的频率偏差值通过以下公式计算：

ΔHZ＝(CountA-ClockA-Δclock)×ClockB/(CountA-Δclock)

其中，ClockA为第一晶振的时钟频率，CountA为第一定时器的计数值，ClockB为第二晶振的时钟频率，Δclock为第一定时器比第二定时器多运行的时间。

所述的用于测量晶振准确性的方法中，Δclock通过以下方式获得：

提供标准时钟频率的第一晶振和第三晶振；其中，第一晶振和第三晶振均为标准时钟频率的晶振，第三晶振和第二晶振为同一型号的时钟频率晶振；

使能第一定时器和第二定时器，分别给第一晶振和第三晶振的时钟频率开始计数；

循环读取第二定时器的计数值，直到第二定时器的计数值等于第三晶振的时钟频率；

读取第一定时器的计数值；

将第一定时器的计数值减去第一晶振的频率，得到Δclock。

所述的用于测量晶振准确性的方法中，所述第一晶振的时钟频率为19.2MHz，第三晶振的时钟频率为32.768KHz。

一种用于测量晶振准确性的系统，其包括：

第一定时器，用于对第一晶振的时钟频率进行计数；

第二定时器，用于对第二晶振的时钟频率进行计数；

处理器，用于循环读取第二定时器计数值，在第二定时器的计数值等于第二晶振的时钟频率时，读取第一定时器的计数值，并根据第一定时器的计数值，获取第二晶振的实际时钟频率，来判断第二晶振的准确度；

所述第一定时器和第二定时器与处理器连接。

所述的用于测量晶振准确性的系统，还包括与处理器连接的显示装置，用于根据第二晶振的准确度，显示相应的信息。