[发明专利]一种用于测量晶振准确性的方法和系统有效
| 申请号： | 201210193153.3 | 申请日： | 2012-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN102721865A | 公开（公告）日： | 2012-10-10 |
| 发明（设计）人： | 李炜锋;杨岳;王鹏蕾 | 申请（专利权）人： | 惠州TCL移动通信有限公司 |
| 主分类号： | G01R23/02 | 分类号： | G01R23/02 |
| 代理公司： | 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 | 代理人： | 刘文求 |
| 地址： | 516006 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测量 准确性 方法 系统 | ||
1.一种用于测量晶振准确性的方法，其特征在于，包括：
使能第一定时器和第二定时器，分别开始给第一晶振和第二晶振的时钟频率计数；
循环读取第二定时器的计数值，直到第二定时器的计数值等于第二晶振的时钟频率；
读取第一定时器的计数值，并根据第一定时器的计数值，获取第二晶振的实际时钟频率，来判断第二晶振的准确度。
2.根据权利要求1所述的用于测量晶振准确性的方法，其特征在于，在所述使能第一定时器和第二定时器，分别给第一晶振和第二晶振的时钟频率开始计数的步骤之前，所述的方法还包括：将第一定时器和第二定时器的计数值清零。
3.根据权利要求1所述的用于测量晶振准确性的方法，其特征在于，根据第二晶振的准确度，控制显示装置进行相应显示。
4.根据权利要求1所述的用于测量晶振准确性的方法，其特征在于，所述第一晶振为标准时钟频率晶振，第二晶振为待查晶振。
5.根据权利要求4所述的用于测量晶振准确性的方法，其特征在于，所述第二晶振的实际时钟频率为第二晶振的标准时钟频率与第二晶振的频率偏差值之差。
6.根据权利要求5所述的用于测量晶振准确性的方法，其特征在于，所述第二晶振的频率偏差值通过以下公式计算：
ΔHZ＝(CountA-ClockA-Δclock)×ClockB/(CountA-Δclock)
其中，ClockA为第一晶振的时钟频率，CountA为第一定时器的计数值，ClockB为第二晶振的时钟频率，Δclock为第一定时器比第二定时器多运行的时间。
7.根据权利要求6所述的用于测量晶振准确性的方法，其特征在于，Δclock通过以下方式获得：
提供标准时钟频率的第一晶振和第三晶振；其中，第一晶振和第三晶振均为标准时钟频率的晶振，第三晶振和第二晶振为同一型号的时钟频率晶振；
使能第一定时器和第二定时器，分别给第一晶振和第三晶振的时钟频率开始计数；
循环读取第二定时器的计数值，直到第二定时器的计数值等于第三晶振的时钟频率；
读取第一定时器的计数值；
将第一定时器的计数值减去第一晶振的频率，得到Δclock。
8.根据权利要求7所述的用于测量晶振准确性的方法，其特征在于，所述第一晶振的时钟频率为19.2MHz，第三晶振的时钟频率为32.768KHz。
9.一种用于测量晶振准确性的系统，其特征在于，包括：
第一定时器，用于对第一晶振的时钟频率进行计数；
第二定时器，用于对第二晶振的时钟频率进行计数；
处理器，用于循环读取第二定时器计数值，在第二定时器的计数值等于第二晶振的时钟频率时，读取第一定时器的计数值，并根据第一定时器的计数值，获取第二晶振的实际时钟频率，来判断第二晶振的准确度；
所述第一定时器和第二定时器与处理器连接。
10.根据权利要求9所述的用于测量晶振准确性的系统，其特征在于，还包括与处理器连接的显示装置，用于根据第二晶振的准确度，显示相应的信息。
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