[发明专利]测试装置

权利要求书

1.一种测试装置，用于测试一焊接到电路板上的MOS管是否存在虚焊和假焊，所述测试装置包括一控制单元、一与所述控制单元相连的显示单元、一开关及第一至第四接触元件，所述控制单元包括一电源引脚、一信号接收引脚、一信号输出引脚及一使能引脚，所述电源引脚与一电源相连，并通过一第一电阻与所述第一接触元件相连，还依次通过所述第一电阻及一第二电阻与所述使能引脚相连，所述信号接收引脚与所述第二接触元件相连，所述信号输出引脚与所述第三接触元件相连，所述开关的一端与所述使能引脚相连，所述开关的另一端接地并与所述第四接触元件相连，测试时，所述第一及第二接触元件接触所述MOS管的漏极与所述电路板上一第一电子元件之间的节点，所述第三接触元件接触所述MOS管的栅极与所述电路板上一第二电子元件之间的节点，所述第四接触元件接触所述MOS管的源极与所述电路板上一第三电子元件之间的节点，闭合所述开关，所述控制单元开始工作，所述信号输出引脚输出一控制信号给所述MOS管的栅极，若所述信号接收引脚接收到高电平信号，所述控制单元控制所述显示单元显示所述MOS管存在虚焊和假焊；若所述信号接收引脚接收到低电平信号，所述控制单元控制所述显示单元显示所述MOS管不存在虚焊和假焊。

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于：当所述MOS管为NMOS管时，所述信号输出引脚输出的控制信号为高电平信号；当所述MOS管为PMOS管时，所述信号输出引脚输出的控制信号为低电平信号。

3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述第一至第四接触元件为探针。

4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述第一电阻通过一线缆与所述第一接触元件相连，所述信号接收引脚通过一线缆与所述第二接触元件相连，所述信号输出引脚通过一线缆与所述第三接触元件相连，所述开关的另一端通过一线缆与所述第四接触元件相连。