[发明专利]功率半导体器件封装及制造方法无效

专利信息
申请号: 201210185444.8 申请日: 2010-06-02
公开(公告)号: CN102655134A 公开(公告)日: 2012-09-05
发明(设计)人: 鲁军;弗兰克斯·赫尔伯特;刘凯;张晓天 申请(专利权)人: 万国半导体有限公司
主分类号: H01L23/492 分类号: H01L23/492;H01L21/48;H01L21/50
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 竺路玲
地址: 美国加利福尼亚*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 功率 半导体器件 封装 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种功率半导体器件封装,其特征在于,包括:

一个含有平板部分的导电装置,平板结构上有一个连接结构;以及

一对半导体晶片电耦合到平板部分,设置在连接结构的两侧,并间隔一定的距离。

2.如权利要求1所述的一种功率半导体器件封装,其特征在于,导电装置通常为“T”形。

3.如权利要求1所述的一种功率半导体器件封装,其特征在于,连接结构为一个沟道。

4.一种制备功率半导体器件封装的方法,其特征在于,包括以下步骤:

制备一个导电板;

在导电板上间隔形成连接结构;

贴上半导体晶片,使得在相邻的连接结构之间,设置有一对半导体晶片;以及

切割导电板形成功率半导体器件独立封装,连接结构将一对半导体晶片分隔开。

5.如权利要求4中所述的一种制备功率半导体器件封装的方法,其特征在于,连接结构为一个沟道。

6.如权利要求5中所述的一种制备功率半导体器件封装的方法,其特征在于,通过压印导电板的方式,间隔形成连接结构。

7.如权利要求5中所述的一种制备功率半导体器件封装的方法,其特征在于,在导电板上形成连接结构,使连接结构末端最接近这对半导体晶片的面缘平面,并与导电板上附着的半导体晶片的面缘平面相对。

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