[发明专利]功率半导体器件封装及制造方法无效
申请号: | 201210185444.8 | 申请日: | 2010-06-02 |
公开(公告)号: | CN102655134A | 公开(公告)日: | 2012-09-05 |
发明(设计)人: | 鲁军;弗兰克斯·赫尔伯特;刘凯;张晓天 | 申请(专利权)人: | 万国半导体有限公司 |
主分类号: | H01L23/492 | 分类号: | H01L23/492;H01L21/48;H01L21/50 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 竺路玲 |
地址: | 美国加利福尼亚*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 功率 半导体器件 封装 制造 方法 | ||
1.一种功率半导体器件封装,其特征在于,包括:
一个含有平板部分的导电装置,平板结构上有一个连接结构;以及
一对半导体晶片电耦合到平板部分,设置在连接结构的两侧,并间隔一定的距离。
2.如权利要求1所述的一种功率半导体器件封装,其特征在于,导电装置通常为“T”形。
3.如权利要求1所述的一种功率半导体器件封装,其特征在于,连接结构为一个沟道。
4.一种制备功率半导体器件封装的方法,其特征在于,包括以下步骤:
制备一个导电板;
在导电板上间隔形成连接结构;
贴上半导体晶片,使得在相邻的连接结构之间,设置有一对半导体晶片;以及
切割导电板形成功率半导体器件独立封装,连接结构将一对半导体晶片分隔开。
5.如权利要求4中所述的一种制备功率半导体器件封装的方法,其特征在于,连接结构为一个沟道。
6.如权利要求5中所述的一种制备功率半导体器件封装的方法,其特征在于,通过压印导电板的方式,间隔形成连接结构。
7.如权利要求5中所述的一种制备功率半导体器件封装的方法,其特征在于,在导电板上形成连接结构,使连接结构末端最接近这对半导体晶片的面缘平面,并与导电板上附着的半导体晶片的面缘平面相对。
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