[发明专利]快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，更具体地说，是涉及一种快速检测在潮湿环境下液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法。 

背景技术

液晶是一种高分子材料，由长棒状的分子组成。在自然状态下，这些棒状分子的轴大致平行。液晶应用于显示技术的基本原理是在两块平行板之间填充液晶材料，通过电压来改变液晶材料内部分子的排列状况，以达到遮光和透光的目的从而显示深浅不一，错落有致的图象。而且只要在两块平板间再加上三元色的滤光层，就可实现显示彩色图象。 

液晶显示屏是必须将液晶灌入两个设有细槽的平面之间才能正常工作。这两个平面上的槽互相垂直，即是若一个平面上的分子南北向排列，则另一平面上的分子东西向排列，这样位于两个平面之间的分子被强迫进入一种90度扭转的状态。由于光线顺着分子的排列方向传播，所以光线经过液晶时也被扭转90度。但当液晶接通电压时，分子便会重新垂直排列，使光线能直射出去，而不发生任何扭转。受工作环境、气温、季节等因素影响，液晶显示屏会出现“结露现象”，用户此时给液晶显示屏通电可能会导致液晶电极腐蚀，造成永久性的损害。在梅雨季节，如果长时间未使用液晶屏，或未进行相关的保护措施驱散凝附在电极和封装框胶上的潮气，液晶框胶处的金属线长期受高温、潮湿气候环境和电化学作用影响导致液晶框胶处出现腐蚀，当腐蚀严重到一定程度外界空气通过框胶腐蚀处直接与液晶框内部液晶接触，继而产生液晶泄露异常， 此过程涉及到框胶处金属线腐蚀是一个缓慢的长期累积过程。而目前常规使用的用于检测液晶屏液晶泄漏的方法是在恒温恒湿的条件下进行的，无法提供实际使用中液晶显示屏所处的工作环境，因此也无法快速检测出液晶屏是否存在液晶泄漏的潜在可能性。 

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于克服现有技术之缺陷，提供一种可快速检测在潮湿环境下液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法。 

为解决上述技术问题，本发明的技术方案是：提供一种快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法，包括以下测试步骤： 

选择数台画面品质合格的液晶显示屏作为测试样机； 

将所述测试样机置于恒温恒湿箱，各测试样机之间间隔放置，并将各测试样机通电，使测试样机均处于工作状态； 

设置不同的环境参数，对所述测试样机进行多次且连续的冲击测试； 

将上述经连续冲击测试的测试样机取出，在常温下静置后再进行画面品质检测，并根据检测结果记录测试样机中出现的液晶泄露异常； 

对记录异常的测试样机进行设计更改，更改后重复上述的测试步骤直至无异常出现。 

具体地，所述测试样机在进行画面品质检测时的环境照度为200±10Lux。 

优选地，所述测试样机之间的间隔要大于20cm。 

进一步地，各次所述的冲击测试均为在两组环境参数下进行多次反复测试，所述环境参数包括温度、相对湿度及时间。 

进一步地，所述反复测试至少为三次。 

更进一步地，所述冲击测试为四次，其中第一次冲击测试时的两组环境参数中的温度、相对湿度及时间范围值分别为：45℃～50℃、90%RH～95%RH、2h～3h；15℃～20℃、90%RH～95%RH、2h～3h。 

优选地，第二次冲击测试时的两组环境参数中的温度、相对湿度及时间范围值分别为：40℃～45℃、20%RH～25%RH、2h～3h；-5℃～0℃、90%RH～95%RH、2h～3h。 

优选地，第三次冲击测试时的两组环境参数中的温度、相对湿度及时间范围值分别为：50℃～55℃、80%RH～85%RH、2h～3h；-10℃～5℃、80%RH～85%RH、2h～3h。 

优选地，第四次冲击测试时的两组环境参数中的温度、相对湿度及时间范围值分别为：50℃～55℃、20%RH～25%RH、2h～3h；-10℃～5℃、20%RH～25%RH、2h～3h。 

优选地，经连续冲击测试后的测试样机在进行画面品质检测前的常温静置时间至少为2h。 

本发明中，利用上述的方法，可以在较短时间内暴露出液晶显示屏在设计阶段存在的需经客户长时间使用后可能出现的液晶泄漏等缺陷，并针暴露的缺陷进行整改，消除缺陷，使产品满足长期使用的可靠性要求，提高产品的可靠度，使产品具有更高的市场竞争力。 

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。