[发明专利]快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法

权利要求书

1.一种快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：包括以下测试步骤：

选择数台画面品质合格的液晶显示屏作为测试样机；

将所述测试样机置于恒温恒湿箱，各测试样机之间间隔放置，并将各测试样机通电，使各测试样机均处于工作状态；

设置不同的环境参数，对所述测试样机进行多次且连续的冲击测试；

将上述经连续冲击测试的测试样机取出，在常温下静置后再进行画面品质检测，并根据检测结果记录测试样机中出现的液晶泄露异常；

对记录异常的测试样机进行设计更改，更改后重复上述的测试步骤直至无异常出现。

2.如权利要求1所述的快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：所述测试样机在进行画面品质检测时的环境照度为200±10Lux。

3.如权利要求1所述的快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：所述测试样机之间的间隔要大于20cm。

4.如权利要求1所述的快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：各次所述的冲击测试均为在两组环境参数下进行多次反复测试，所述环境参数包括温度、相对湿度及时间。

5.如权利要求4所述的快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：所述反复测试至少为三次。

6.如权利要求4或5所述的快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：所述冲击测试为四次，其中第一次冲击测试时的两组环境参数中的温度、相对湿度及时间范围值分别为：45℃～50℃、90%RH～95%RH、2h～3h；15℃～20℃、90%RH～95%RH、2h～3h。

7.如权利要求6所述的快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：第二次冲击测试时的两组环境参数中的温度、相对湿度及时间范围值分别为：40℃～45℃、20%RH～25%RH、2h～3h；-5℃～0℃、90%RH～95%RH、2h～3h。

8.如权利要求7所述的快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：第三次冲击测试时的两组环境参数中的温度、相对湿度及时间范围值分别为：50℃～55℃、80%RH～85%RH、2h～3h；-10℃～5℃、80%RH～85%RH、2h～3h。

9.如权利要求8所述的快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：第四次冲击测试时的两组环境参数中的温度、相对湿度及时间范围值分别为：50℃～55℃、20%RH～25%RH、2h～3h；-10℃～5℃、20%RH～25%RH、2h～3h。

10.如权利要求1所述的快速检测液晶显示屏液晶泄漏缺陷的方法，其特征在于：经连续冲击测试后的测试样机在进行画面品质检测前的常温静置时间至少为2h。