[发明专利]测试装置及测试方法无效

专利信息
申请号: 201210170246.4 申请日: 2012-05-28
公开(公告)号: CN102798774A 公开(公告)日: 2012-11-28
发明(设计)人: 大岛广美 申请(专利权)人: 爱德万测试株式会社
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G11C29/08
代理公司: 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 代理人: 齐永红
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种测试装置,是对输出数据信号和表示所述数据信号取样时序的时钟信号的被测试器件进行测试的测试装置,其特征在于,包括:

数据取得部,以与所述被测试器件输出的所述时钟信号对应的取样时钟的时序或与该测试装置的测试周期对应的时序信号的时序取得所述被测试器件输出的所述数据信号;

判断部,基于将所述数据取得部取得的所述数据信号与期望值进行比较的比较结果判断所述被测试器件的好坏;

指定部,指定所述数据取得部根据与所述取样时钟对应的时序或与所述时序信号对应的时序的哪一个取得所述数据信号。

2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,还具有

时序发生部,基于在该测试装置内部发生的基准时钟而发生所述时序信号;

时钟生成部,其基于被所述被测试器件输出的所述时钟信号生成所述取样时钟。

3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,还具有:

时钟取得部,以与所述时序信号对应的所述时序取得被测试器件输出的所述时钟信号;

所述数据取得部,以与所述时序信号对应的时序取得所述数据信号;

所述判断部,在将所述数据取得部取得的所述数据信号与期望值比较的同时,将所述时钟取得部取得的所述时钟信号与期望值比较,根据比较结果判断所述被测试器件的好坏。

4.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述数据取得部包括:

第1取得部,按照与所述时钟信号对应的时序取得所述被测试器件输出的数据信号;

第2取得部,按照与所述时序信号对应的时序取得所述被测试器件输出的数据信号;

缓冲部,具有多个条目,将所述时钟信号或所述时序信号中被所述指定部指定的信号对应的时序中被取得的数据信号,依次在各条目进行缓冲,输出按照所述时序信号的时序在各条目缓冲后的数据信号。

5.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于:

该测试装置,通过双向总线与所述被测试器件之间收发数据信号及时钟信号。

6.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于:

所述被测试器件,是通过双向总线收发数据信号及时钟信号的存储器器件。

7.一种测试方法,是对输出数据信号和表示所述数据信号取样时序的时钟信号的被测试器件进行测试的测试装置中的测试方法,其特征在于,所述测试装置具有:

数据取得部,以与所述被测试器件输出的所述时钟信号对应的取样时钟的时序或与该测试装置的测试周期对应的时序信号的时序取得所述被测试器件输出的所述数据信号;

判断部,基于将所述数据取得部取得的所述数据信号与期望值的比较结果判断所述被测试器件的好坏;

在测试之前,指定所述数据取得部是根据所述取样时钟对应的时序还是根据所述时序信号对应的时序的哪一个取得所述数据信号。

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