[发明专利]主动元件阵列基板及其制造方法有效
申请号: | 201210160762.9 | 申请日: | 2012-05-16 |
公开(公告)号: | CN102832226A | 公开(公告)日: | 2012-12-19 |
发明(设计)人: | 叶家宏;吕思慧;林武雄;丘兆仟;李明贤;彭佳添;黄伟明 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/28 | 分类号: | H01L27/28;G09F9/37;H01L21/77 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;鲍俊萍 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 主动 元件 阵列 及其 制造 方法 | ||
1.一种主动元件阵列基板,其特征在于,包含:
一软质基板,该软质基板上定义有至少一晶体管区与至少一透光区,该晶体管区与该透光区相毗邻;
一栅极,位于该晶体管区的该软质基板上;
一介电层,覆盖该栅极与该软质基板,位于该栅极上方的部分该介电层具有一第一厚度,位于该透光区的该软质基板上的部分该介电层具有一第二厚度,其中该第二厚度小于该第一厚度;
一通道层、一源极与一漏极,位于该晶体管区的该介电层上,该通道层位于该栅极的上方,该源极与该漏极位于该通道层两侧且分别电性连接该通道层;以及
一像素电极,位于该透光区的该介电层上,该像素电极电性连接该漏极。
2.根据权利要求1所述的主动元件阵列基板,其特征在于,该软质基板的材质包含塑料。
3.根据权利要求1所述的主动元件阵列基板,其特征在于,该软质基板的材质包含聚酰亚胺、聚对苯二甲酸乙二酯、聚2,6-萘二酸乙二醇酯或上述的任意组合。
4.根据权利要求1所述的主动元件阵列基板,其特征在于,该介电层的材质包含氮化硅、氧化硅、氮氧化硅或上述的任意组合。
5.根据权利要求1所述的主动元件阵列基板,其特征在于,更包含至少一储存电容,该储存电容位于该软质基板上,该储存电容包含一下电极、一电容介电层与一上电极。
6.根据权利要求5所述的主动元件阵列基板,其特征在于,该电容介电层为该介电层的一部分。
7.根据权利要求1所述的主动元件阵列基板,其特征在于,更包含至少一连接垫,该连接垫位于该软质基板上,该连接垫包含一下层连接垫与一上层连接垫。
8.根据权利要求1所述的主动元件阵列基板,其特征在于,通道层的材质包含非晶硅、复晶硅、氧化物半导体或上述的任意组合。
9.根据权利要求1所述的主动元件阵列基板,其特征在于,更包含一保护层覆盖该通道层、该源极与该漏极。
10.根据权利要求1所述的主动元件阵列基板,其特征在于,该像素电极的材质包含铟锡氧化物、铟锌氧化物、铝锌氧化物或上述的任意组合。
11.根据权利要求1所述的主动元件阵列基板,其特征在于,更包含一金属氧化物介电层,该金属氧化物介电层位于该软质基板及该介电层之间。
12.根据权利要求11所述的主动元件阵列基板,其特征在于,该金属氧化物介电层更位于该软质基板及该栅极之间。
13.根据权利要求11所述的主动元件阵列基板,其特征在于,该金属氧化物介电层更位于该介电层及该栅极之间。
14.根据权利要求11所述的主动元件阵列基板,其特征在于,该金属氧化物介电层的材质包含铟氧化物、锌氧化物、镓氧化物或上述的任意组合。
15.一种主动元件阵列基板的制造方法,其特征在于,包含下列步骤:
提供一软质基板,该软质基板上定义有至少一晶体管区与至少一透光区;
于该软质基板的该晶体管区上形成一栅极;
依序形成一介电层与一半导体层,该介电层与该半导体层覆盖该栅极与该软质基板;
去除部分该半导体层,以于该栅极上方形成一通道层,并一并去除位于该透光区的该介电层的部份厚度,使位于该栅极上方的部分该介电层具有一第一厚度,位于该透光区的该软质基板上的部分该介电层具有一第二厚度,其中该第二厚度小于该第一厚度;
于该通道层的两侧分别形成一源极与一漏极,且分别电性连接该通道层;
形成一保护层,该保护层覆盖该通道层、该源极、该漏极与该介电层;
于该保护层中形成一晶体管接触孔,以分别暴露出该漏极,并同时去除位于该透光区的该保护层,以暴露出位于该透光区的该介电层;以及
在位于该透光区的该介电层上形成一像素电极,该像素电极透过该晶体管接触孔电性连接该漏极。
16.根据权利要求15所述的主动元件阵列基板的制造方法,其特征在于,该软质基板的材质包含塑料。
17.根据权利要求15所述的主动元件阵列基板的制造方法,其特征在于,该软质基板的材质包含聚酰亚胺、聚对苯二甲酸乙二酯、聚2,6-萘二酸乙二醇酯或上述的任意组合。
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