[发明专利]一种天线角度优化方法及系统

权利要求书

1.一种天线角度优化方法，其特征在于，包括：

采集测量报告；

解析测量报告，得到样本点，将同一天线的样本点作为所述天线的聚类簇；

根据所述天线的聚类簇计算天线的合理方向角和合理下倾角；

根据所述合理方向角和合理下倾角对天线的方向角和下倾角进行优化。

2.根据权利要求1所述的天线角度优化方法，其特征在于，所述测量报告中包括以下测量数据：

基站编号Scell_ID、国际移动用户识别码IMSI、测量采样时间、终端到基站的时间提前量Tadv以及天线到达角AOA。

3.根据权利要求2所述的天线角度优化方法，其特征在于，解析测量报告包括：

将所述AOA和Tadv在测量报告中的数值分别转换为实际测量值α_k和d_k，其中，α_k为天线主瓣水平方向与正北的夹角，d_k为天线主瓣落地点与基站的距离，k表示样本点序号。

4.根据权利要求3所述的天线角度优化方法，其特征在于，根据所述天线的聚类簇计算天线的合理方向角和合理下倾角包括：

采用聚类算法对所述聚类簇中的样本点进行迭代，计算出所述聚类簇中聚类质量最小的质点；

根据所述聚类质量最小的质点计算天线的合理方向角和合理下倾角。

5.根据权利要求4所述的天线角度优化方法，其特征在于，所述聚类质量最小的质点为第k个质点，第k个质点的AOA和Tadv的实际测量值为α_k和d_k；

根据所述聚类质量最小的质点计算天线的合理方向角和合理下倾角包括：

所述α_k为所述天线的合理方向角；

根据d_k计算所述合理下倾角为其中，h为天线挂高。

6.根据权利要求3所述的天线角度优化方法，其特征在于，解析测量报告还包括：

以IMSI为基准，对单位时间段内的Tadv和AOA分别取平均值。

7.一种天线角度优化系统，其特征在于，包括：

采集装置，用于采集测量报告；

解析装置，用于解析测量报告，得到样本点，将同一天线下的样本点作为所述天线的聚类簇；

角度计算装置，用于根据所述天线的聚类簇计算天线的合理方向角和合理下倾角；

优化装置，用于根据所述合理方向角和合理下倾角对天线的方向角和下倾角进行优化。

8.根据权利要求7所述的天线角度优化系统，其特征在于，所述测量报告中包括以下测量数据：

基站编号Scell_ID、国际移动用户识别码IMSI、测量采样时间、终端到基站的时间提前量Tadv以及天线到达角AOA。

9.根据权利要求8所述的天线角度优化系统，其特征在于，所述解析装置包括：转换模块，用于将所述Tadv和AOA在测量报告中的数值转换为实际测量值α_k和d_k，其中，α_k为天线主瓣水平方向与正北的夹角，d_k为天线主瓣落地点与基站的距离，k表示样本点序号。

10.根据权利要求9所述的天线角度优化系统，其特征在于，所述角度计算装置，用于采用聚类算法对所述聚类簇中的样本点进行迭代，计算出所述聚类簇中聚类质量最小的质点；根据所述聚类质量最小的质点计算天线的合理方向角和合理下倾角。

11.根据权利要求10所述的天线角度优化系统，其特征在于，所述角度计算装置包括：

质点计算模块，用于对所述聚类簇中的样本点进行迭代，计算样本点的聚类质量；选取所述聚类质量最小的质点为第k个质点，第k个质点的AOA和Tadv的实际测量值为α_k和d_k；

合理方向角计算模块，用于计算所述天线的合理方向角为所述α_k；

合理下倾角计算模块，用于根据d_k计算所述合理下倾角为其中，h为天线挂高。

12.根据权利要求9所述的天线角度优化系统，其特征在于，所述解析装置还包括：平滑处理模块，用于以IMSI为基准，对单位时间段内的Tadv和AOA分别取平均值。