[发明专利]样本分析装置及数据处理装置有效
| 申请号: | 201210130046.6 | 申请日: | 2012-04-28 |
| 公开(公告)号: | CN102768286A | 公开(公告)日: | 2012-11-07 |
| 发明(设计)人: | 福间大吾 | 申请(专利权)人: | 希森美康株式会社 |
| 主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00 |
| 代理公司: | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人: | 刘良勇 |
| 地址: | 日本兵库县神户市*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 样本 分析 装置 数据处理 | ||
技术领域
本发明涉及一种用于分析血液等样本的样本分析装置、以及一种数据处理装置。
背景技术
在使用样本分析装置的机构中,为了确认获取的测定结果是正确的,一般都会进行精度管理。
精度管理过程如下:定期(比如每天)测定精度管理试样,确认其测定结果在所规定的范围内。比如,美国专利申请公报第2009/0198463号(U.S. Patent Application Publication No. 2009/0198463)上面有记述有精度管理。
一般而言,在能够进行精度管理的样本分析装置中,精度管理试样测定所得的测定结果,即精度管理值可以以预定阶段按时间序列(time series)进行标绘,并以图表形式显示(参照美国专利申请公报第2009/0198463号)。预定阶段的精度管理值的集合构成了时序数据,即精度管理数据,这样,可以确认该样本分析装置中精度管理值的变化。
关于精度管理值的显示,美国专利申请公报第2009/0198463号中公开了以横轴为日期,以纵轴为SD值(标准偏差)的管理图。在此管理图上,纵向并列显示着数条折线图, 这些折线图分别显示了浓度值各不相同的数个精度管理试样各自的测定结果。此外,在美国专利申请公报第2009/0198463号中,数个不同的精度管理试样中,测定日期相同的精度管理值(SD值)标绘在横轴的同一位置上。
如此,同时显示多个由预定阶段的精度管理值构成的精度管理数据,因此,样本分析装置的管理者等可以比较数个精度管理数据。
精度管理试样的测定不一定一天一次,也可能一天数次。
而且,在数个精度管理数据中,有时同一天中的测定次数也各不相同。
比如,当样本分析装置有数个测定部件时,在某一时间段内,由数个测定部件测定精度管理试样,且数个测定部件分别获取精度管理值。然而,有的情况中,在另一时间段,特定的测定部件关机且不再使用,因此,仅由正在工作的其他测定部件测定了精度管理试样。
因此,在同一天中,某一测定部件的精度管理数据和另一测定部件的精度管理数据的精度管理试样的测定次数不同。
如上所述,数个精度管理数据每天的测定次数都不同时,要将该精度管理数据按时间序列(time series)进行绘制和显示的话,不下特别的工夫,很难使数个精度管理数据显示为容易进行比较的形式。
比如,以预定绘制间隔优先对精度管理数据中所含的各精度管理值进行绘制,从绘制间隔中去掉“日期”的概念时,在数个精度管理数据相应的数个图表中,横轴上的日期会错位。因此,难以比较数个精度管理数据。
反之,如果优先消除横轴上的日期错位时,在进行了数次测定的日期,会密密麻麻地集中不同值的数个数据点。因此,还是难以比较数个精度管理数据。
因此,本发明的目的在于:使精度管理试样的测定频率不同的数个精度管理数据以易于比较的形式显示出来。
发明内容
本发明的范围只由后附权利要求书所规定,在任何程度上都不受这一节发明内容的陈述所限。
本发明提供:
(1)一种样本分析装置,包括:测定部件,用于分析样本中的成分;存储部件,用于存储第一精度管理数据和第二精度管理数据,其中所述第一精度管理数据是时序数据,且包含所述测定部件测定精度管理试样所获得的至少一个精度管理值,所述第二精度管理数据是时序数据,且包含至少一个所述精度管理值;显示部件;处理部件,用于在所述显示部件上显示包括第一精度管理图表和第二精度管理图表的界面,其中所述第一精度管理图表按时间序列标绘所述存储部件中存储的所述第一精度管理数据中所包含的精度管理值,所述第二精度管理图表按时间序列标绘所述存储部件存储的所述第二精度管理数据中所包含的精度管理值;其中,当预定时间范围内的所述第一精度管理数据中包含第一个数的精度管理值,所述预定时间范围内的所述第二精度管理数据中包含不同于第一个数的第二个数的精度管理值时,所述处理部件在所述界面显示以下内容:在预定范围标绘所述第一个数的精度管理值的第一精度管理图表、以及在预定范围标绘所述第二个数的精度管理值的第二精度管理图表。
(2)如所述(1)所述的样本分析装置,其中:所述测定部件包括第一测定单元和第二测定单元;所述第一和第二精度管理数据通过在所述第一测定单元测定精度管理试样来获取。
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