[发明专利]样本分析装置及数据处理装置有效
| 申请号: | 201210130046.6 | 申请日: | 2012-04-28 |
| 公开(公告)号: | CN102768286A | 公开(公告)日: | 2012-11-07 |
| 发明(设计)人: | 福间大吾 | 申请(专利权)人: | 希森美康株式会社 |
| 主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00 |
| 代理公司: | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人: | 刘良勇 |
| 地址: | 日本兵库县神户市*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 样本 分析 装置 数据处理 | ||
1. 一种样本分析装置,包括:
测定部件,用于分析样本中的成分;
存储部件,用于存储第一精度管理数据和第二精度管理数据,其中所述第一精度管理数据是时序数据,且包含所述测定部件测定精度管理试样所获得的至少一个精度管理值,所述第二精度管理数据是时序数据,且包含至少一个所述精度管理值;
显示部件;
处理部件,用于在所述显示部件上显示包括第一精度管理图表和第二精度管理图表的界面,其中所述第一精度管理图表按时间序列标绘所述存储部件中存储的所述第一精度管理数据中所包含的精度管理值,所述第二精度管理图表按时间序列标绘所述存储部件存储的所述第二精度管理数据中所包含的精度管理值;
其中,当预定时间范围内的所述第一精度管理数据中包含第一个数的精度管理值,所述预定时间范围内的所述第二精度管理数据中包含不同于第一个数的第二个数的精度管理值时,所述处理部件在所述界面显示以下内容:在预定范围标绘所述第一个数的精度管理值的第一精度管理图表、以及在预定范围标绘所述第二个数的精度管理值的第二精度管理图表。
2.根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
所述测定部件包括第一测定单元和第二测定单元;
所述第一和第二精度管理数据通过在所述第一测定单元测定精度管理试样来获取。
3.根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
所述测定部件具有第一测定单元和第二测定单元;
所述第一精度管理数据是在所述第一测定单元中测定精度管理试样而获得的;
所述第二精度管理数据是在所述第二测定单元中测定精度管理试样而获得的。
4.根据权利要求1~3其中任意一项所述的样本分析装置,其特征在于:
当所述第二个数大于所述第一个数时,在所述预定范围标绘所述第二个数的精度管理值的第二精度管理图表在所述预定范围以预定间隔标绘所述第二个数的精度管理值。
5.根据权利要求4所述的样本分析装置,其特征在于:
在所述预定范围标绘所述第一个数的精度管理值的第一精度管理图表在以下位置标绘有精度管理值:在与所述预定范围标绘所述第二个数的精度管理值的第二精度管理图表的标绘位置中的某一个相同的标绘位置。
6.根据权利要求5所述的样本分析装置,其特征在于:
在所述预定范围标绘所述第一个数的精度管理值的第一精度管理图表的精度管理值集中标绘在图表时间坐标方向上的早期时间一侧。
7.根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
所述处理部件在所述界面的同一区域上重叠显示所述第一和第二精度管理图表。
8.根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
所述第一和第二精度管理数据分别包含数个测定项目的精度管理值;
所述处理部件就每个测定项目重叠地显示所述第一和第二精度管理图表。
9.根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
所述存储部件存储第三精度管理数据,该第三精度管理数据是包含至少一个所述精度管理值的时序数据;
所述处理部件显示用于选择所述存储部件存储的所述第一至第三精度管理数据的选择界面,当用户在所述选择界面选择了所述第一和第二精度管理数据时,在所述显示部件显示所述第一和第二精度管理图表。
10.根据权利要求9所述的样本分析装置,其特征在于:
从所述存储部件中存储的所述第一至第三精度管理数据中按照预定抽取条件抽取的数个精度管理数据被所述处理部件显示在所述选择界面上。
11.根据权利要求10所述的样本分析装置,其特征在于:
所述处理部件按照预定的分类条件分类抽取的所述数个精度管理数据,并将其显示在所述选择界面上。
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