[发明专利]基于二维索引计算投影系数构造系统矩阵的简易方法有效

专利信息
申请号: 201210128704.8 申请日: 2012-04-28
公开(公告)号: CN102682199A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 陈洪磊;贺建峰 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00;A61B6/03
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 650093 云*** 国省代码: 云南;53
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 二维 索引 计算 投影 系数 构造 系统 矩阵 简易 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及单光子发射计算机断层成像术(Single-Photon Emission Computed Tomography, SPECT)和正电子发射断层成像术(Positron Emission Tomography, PET)等主要使用迭代算法成像的技术,具体涉及基于二维引索计算投影系数构造系统矩阵的简易方法,属于核医学成像技术领域。

背景技术

在SPECT和PET成像中主要运用两种迭代算法:似然期望值最大化算法(Maximum Likelihood Expectation Maximization, MLEM)和有序子集-期望值最大化算法(Ordered Sub-sets Expectation Maximization, OSEM)。这两种算法的关键在于事先求得精确的系统矩阵。系统矩阵反映了所要还原的图像像素对放射射线的贡献,即放射射线在还原图像上的概率分布。

目前有许多方法计算系统矩阵,其中最简单的就是先计算投影系数,然后在把投影系数按一定顺序排列就可以得到系统矩阵。投影系数数值上等于放射射线穿过像素的长度。对于投影系数的计算通常是把一幅图像网格化,每个像素对应网格中的一个小格并进行编号,再计算放射射线穿过小格的长度。编号与长度构成了投影系数。

目前投影系数算法中,网格中的小格都是以一维的方式进行编号,比如网格大小为64×64,其中小格一共有4096(64×64)个,即小格就有4096个编号。并且为了保证计算的精确度,放射线每穿过一个小格都要考虑与小格相交点位置的情况,不同的位置计算方法不同,这就导致算法运算量大,计算效率降低。

发明内容

本发明的目的在于在保持计算的精确度不变的基础下,简化投影系数计算,提高系统矩阵的计算效率,提供一种基于二维索引计算投影系数构造系统矩阵的简易方法,通过下列技术方案实现。

一种基于二维索引计算投影系数构造系统矩阵的简易方法,包括下列步骤:

首先构造坐标轴与网格,确定放射射线,射线一般使用直线截距公式表示;然后确定放射射线与网格的位置关系,计算出射线与网格相交的各点的横纵坐标,根据坐标计算每个单独网格中所截射线线段长度;最后确定每条所截线段的网格编号,并且与其线段长度按照一定规则保存,得到最终结果。

具体步骤如下:

(1)根据原始正弦图的尺寸构造网格和坐标轴;

(2)用直线斜截式方程y=kx+b表示放射射线,并且计算出射线与网格各个相交点的坐标;

(3)根据射线斜率,计算出网格所截射线上线段的长度;

(4)根据斜率情况,按照下列公式计算行和列编号:

N表示网格大小,一般为偶数,x为相交点的横坐标点,y为相交点的纵坐标点,计算列编号使用公式:                                                ,行编号有两种情况,斜率大于零时:;斜率小于零时:,当斜率不存在时只计算列编号:;当斜率等于零时只计算行编号:;

(5)线段长度按照计算所得编号保存;

(6)把步骤(5)得到的矩阵转换为列或行向量,得到最终的系统矩阵。

本发明的原理:在计算线段长度时本方法运用经典的欧拉公式。计算出射线与网格交点坐标后,根据射线的斜率不同情况对坐标点保存。当斜率大于零,横纵坐标都按照从小到大的顺序保存;当斜率小于零,横坐标按照从小到大的顺序保存,而纵坐标按照从大到小的顺序保存。对于斜率的另外两种特殊情况:不存在和等于零,没有必要再保存所有的相交坐标点,此时网格所截线段长度都为网格的大小(一般设为1)。线段长度总数要比坐标总数少一个,如图2所示。二维的网格索引方式,就是用行和列对每个小格编号,类似于矩阵中元素的编号方式。N表示网格大小,一般为偶数,x为横坐标点,y为纵坐标点,计算列编号使用公式:,行编号有两种情况,斜率大于零时:;斜率小于零时:。当斜率不存在时只考虑列编号:;当斜率等于零时这考虑行编号:。

本方法的特点就在于二维,例如网格尺寸为64×64,第一维把网格中的小格编为64个,第二维同样编为64个,就相当于矩阵中的行号和列号,每个小格有两个数值的编号表示,处理64个编号比处理4096个编号更简单,并且只考虑放射线斜率情况,降低的计算的复杂性,提高了计算效率。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆明理工大学,未经昆明理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210128704.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top