[发明专利]回转窑同心度测量方法及该方法中的基准线的确定方法有效

专利信息
申请号: 201210114867.0 申请日: 2012-04-18
公开(公告)号: CN102628680A 公开(公告)日: 2012-08-08
发明(设计)人: 黄建;张家春;陈合建;刘强 申请(专利权)人: 中国十九冶集团有限公司
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27;G01C15/00
代理公司: 成都虹桥专利事务所 51124 代理人: 刘世平
地址: 617000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 回转 同心 测量方法 方法 中的 基准线 确定
【权利要求书】:

1.用于回转窑同心度测量的基准线的确定方法,包括回转窑的筒体,其特征是包括以下步骤:

A、确定筒体两端的横截面的基准圆心,所述两个基准圆心分别为低端的基准圆心和高端的基准圆心;

B、在筒体下方设置水平基准面,在水平基准面上通过全站仪和步骤A确定的两个基准圆心确定筒体的中心铅垂面,所述中心铅垂面经过两个基准圆心且与水平基准面垂直,并通过全站仪在筒体的其中一端的外侧对应的水平基准面上找一点作为仪器架设点,使所述仪器架设点位于中心铅垂面上;

C、确定仪器架设高度h:

当仪器架设点位于筒体低端外侧时:h=a1-H1,其中,a1为低端的基准圆心距离水平基准面的垂直距离,H1=Q*D1,其中Q为筒体倾斜度,D1为仪器架设点与经过低端的基准圆心的铅垂线与水平基准面的交点之间的距离;

当仪器架设点位于筒体的高端外侧时:h=a2+H2,其中,a2为高端的基准圆心距离水平基准面的垂直距离,H2=Q*D2,其中Q为筒体倾斜度,D2为仪器架设点与经过高端的基准圆心的铅垂线与水平基准面的交点之间的距离;

D、根据步骤C确定的仪器架设高度h在仪器架设点上架设基准线定位仪器,将基准线定位仪器发出的红外线作为基准线或将经过基准线定位仪器的物镜的中心点的视线作为基准线。

2.如权利要求1所述的用于回转窑同心度测量的基准线的确定方法,其特征是:所述仪器架设点位于筒体的低端外侧。

3.如权利要求1所述的用于回转窑同心度测量的基准线的确定方法,其特征是:所述筒体的轴向长度大于等于100米。

4.如权利要求1所述的用于回转窑同心度测量的基准线的确定方法,其特征是:所述基准线定位仪器为全站仪。

5.如权利要求4所述的用于回转窑同心度测量的基准线的确定方法,其特征是:步骤D中,在架设基准线定位仪器时,在仪器架设点外侧的水平基准面上找一点作为水准点,在水准点上垂直延伸量尺,然后将水平尺的一端抵靠在基准线定位仪器的中心上,将水平尺的另一端与量尺抵靠,通过量尺上的读数同步调整水平尺和基准线定位仪器的高度直至基准线定位仪器架设到位。

6.回转窑同心度测量方法,其特征是:包括权利要求1至5中任意一项所述的用于回转窑同心度测量的基准线的确定方法,还包括步骤E:在筒体内选定测量位置,确定测量位置对应的横截面的圆心,所述圆心与步骤D中的基准线的偏差即为测量位置的同心度。

7.如权利要求6所述的回转窑同心度测量方法,其特征是:所述筒体内部的两端之间间隔安装有一组支撑架,所述支撑架的端部与筒体相连,所述支撑架的中央开有透光孔,所述基准线定位仪器发出的红外线或经过基准线定位仪器的物镜的中心点的视线可依次穿过各个透光孔。

8.如权利要求7所述的回转窑同心度测量方法,其特征是:所述支撑架设置在筒体的横截面上,所述支撑架上还设置有用于遮挡透光孔的可移动挡板。

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