[发明专利]检测器模块和辐射成像设备

说明书

技术领域

本发明涉及检测器模块，以及配备有该检测器模块的辐射成像设备。

背景技术

此前已知配备有X射线检测器的X射线成像设备，该X射线检测器中设置每个包括多个X射线检测元件的多个检测器模块。

一般，X射线检测元件的灵敏度随X射线检测元件变化。然而，在X射线成像设备中，通过成像或捕捉受检者获得的受检者数据采用使得物质的X射线吸收系数和捕捉的图像的像素值之间的关系变得如规定的那样有效的这样的方式使用通过将例如水、空气或其类似物等参考物质成像获得的数据而校正。

在另一方面，每个X射线检测元件的灵敏度具有温度特性，其随该X射线检测元件的温度变化。由于该原因，当参考物质成像时的元件温度和受检者成像时的元件温度之间存在不同时，不能准确地校正受检者数据，并且在捕捉的图像中出现伪像。

因此已经提出用于使用每个X射线检测元件的灵敏度的温度特性、参考物质成像时的元件温度和受检者成像时的元件温度校正每个X射线检测元件的输出中由于元件温度中的波动引起的变化的方法(例如，参考日本专利公布公开号Sho 62-231628)。

发明内容

顺便提一句，X射线检测元件的灵敏度的温度特性实际上还根据X射线检测元件变化。特别当检测器模块改变时，它们的温度特性可由于生产条件中的不同而大大改变。

从而，例如，参考物质在多个不同的元件温度成像，并且每个X射线检测元件的灵敏度的温度特性从在该时间获得并且存储的数据确定。由相应X射线检测元件获得的数据基于X射线检测元件的灵敏度的温度特性校正。

然而，当检测器模块由于故障或类似原因用另一个代替时，在视情况基础上在多个不同的元件温度将参考物质成像，并且确定新设置的检测模块处的每个X射线检测元件的灵敏度的温度特性，这是必需的。因此，这在成像准备方面花费时间和精力。

关于这样的情况，使对于检测的数据的温度校正必需的用于重新确定X射线检测元件的灵敏度的温度特性信息的成像不必要，并且防止在成像准备方面花费时间和精力，这是可取的。

本发明根据第一方面提供辐射成像设备，其包括具有设置在其中的复数检测器模块的辐射检测器，检测器模块每个包括多个辐射检测元件，其中这些检测器模块中的每个具有温度传感器，并且该辐射成像设备包括用于在该辐射成像设备外在检测器模块单元中从存储部件采集这些辐射检测元件的灵敏度的温度特性信息的采集部件，该存储装置预先存储温度特性信息，以及用于基于由该温度传感器提供的温度信息和由该采集部件采集的该温度特性信息校正由这些辐射检测元件检测的数据的校正部件。

本发明根据第二方面提供根据第一方面的辐射成像设备，其中存储部件提供在检测器模块的每个中。

本发明根据第三方面提供根据第一方面的辐射成像设备，其具有读取单元，其中存储部件是可由该读取单元读取的存储介质。

本发明根据第四方面提供根据第一方面的辐射成像设备，其中存储部件通过网络连接到辐射成像设备。

本发明根据第五方面提供根据第一至第四方面中的任一个的辐射成像设备，其中温度特性信息包括检测器模块的典型温度特性信息，并且校正部件基于检测器模块的该典型温度特性信息校正由个体辐射检测元件检测的数据，这些个体辐射检测元件分别配置检测器模块。

本发明根据第六方面提供根据第一至第四方面中的任一个的辐射成像设备，其中当配置检测器模块的辐射检测元件被分成多个组时温度特性信息包括每组的典型温度特性信息，并且校正部件基于这些组的该典型温度特性信息校正由位于相同组中的辐射检测元件检测的数据。

本发明根据第七方面提供根据第一至第四方面中的任一个的辐射成像设备，其中温度特性信息包括配置每个检测器模块的每个辐射检测元件的温度特性信息，并且校正部件基于这些辐射检测元件的该温度特性信息校正由这些辐射检测元件检测的数据。

本发明根据第八方面提供根据第一至第七方面中的任一个的辐射成像设备，其中当检测器模块用新的检测器模块代替时，校正部件采集对应于该新的检测器模块的温度特性信息。

本发明根据第九方面提供根据第一至第八方面中的任一个的辐射成像设备，其中校正部件基于在对水或空气成像时由温度传感器提供的温度信息以及在对要捕捉的受检者成像时由温度传感器提供的温度信息进行校正。

本发明根据第十方面提供根据第一至第九方面中的任一个的辐射成像设备，其中辐射检测元件包括闪烁体和光电二极管，并且温度特性信息包括涉及这些光电二极管的输出的温度特性的信息。